功能无机材料材料的表征.pptVIP

依照粉末线(θ由小到大)的顺序,sin2θ值的比例(即h2+k2+l2)必有如下规律:P:1:2:3:4:5:6:8:9…（缺7，15，23等）I:1:2:3:4:5:6:7:8:9…（不缺）F:3:4:8:11:12:16:19:20…(出现二密一稀的规律)*第94页，讲稿共128页，2023年5月2日，星期三（3）点阵常数的精确测定点阵常数是晶体物质的基本结构参数，点阵常数的精确测定，可用于晶体缺陷及固溶体的研究、测量膨胀系数及物质的真实密度。步骤：根据衍射线的角位置计算晶面间距d标定个衍射线条的指数hkl（指标化）由d和相应的hkl计算点阵常数(a、b、c等)消除误差得到精确的点阵常数*第95页，讲稿共128页，2023年5月2日，星期三（4）晶粒尺寸和点阵畸变的测定1918年谢乐（Scherrer）首先提出的小晶粒平均尺寸（D）与衍射线真实宽度之间的数学关系:Scherrer方程：D=Kλ/B1/2cosθ

式中，D为晶粒的平均尺寸，K为常数(约等于0.89)，B1/2为衍射线剖面的半高宽。*第96页，讲稿共128页，2023年5月2日，星期三物质状态的鉴别不同的物质状态对X射线的衍射作用是不相同的，因此可以利用X射线衍射谱来区别晶态和非晶态。不同材