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原子发射光谱法的定量

发射光谱定量理论基础

原子由某一激发态向基态或较低能级跃迁发射谱线的强度，与激发

态原子数成正比

在激发光源高温条件下，温度一定，处于热力学平衡状态时，单位

体积基态原子数与激发态原子数之间遵守Boltzmann分布定律：

oEi

N=N皇e-kT

o

Ni:单位体积激发态原子数，No:单位体积基态原子数

gi：激发态统计权重， go：基态统计权重

Ei：激发能 k:Boltzmann常数

原子的外层电子在I,j两个能级之间跃迁，其发射谱线强度

L=NAM.iigi

A..:跃迁几率，h:Plank常数vj 发射谱线的频率

整理上两式得：

I=^^AhvNe屯ijgijijoo

可知谱线强度影响因子如下:

1.gi/go

跃迁几率

激发能Ei:激发能最低的共振线强度最大

激发温度:

基态原子数

■上式中No正比于样品浓度。在一定的实验条件下，.激发温度一定时，gi/go、跃迁几率、激发能Ei等为常数，即：I=ac

如有谱线自吸现象： I=acb

也自吸系数，低浓度时b=1

2.定量方法：

校准曲线法(略)

标准加入法

■设被测定元素浓度为Cx,分别加入不同浓度的标准溶液

Ci=C],C2，C3；在同一条件下激发光谱

*.*I=acb；在低浓度下b^l，

??!=ac

艮PI尸a(Cx+Ci)；