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前言
仿真饰品第3部分:锑、汞含量的测定
原子荧光光谱法
2
SN/T3249.3—2012
4.11锑、汞混合标准工作溶液:分别吸取一定体积的标准储备液(4,10)于100ml.容量瓶,加入2.0ml盐酸(4.2),加5.0mL,硫脉-抗坏血酸混合溶液(4.5),用水稀释至刻度,混匀,使其浓度满足表1要求。
表1标准工作溶液系列浓度单位为微克每升(pg/L)
系列号
0
1
2
3
4
5
6
锡(Sb)
0
1
2
4
6
8
10
求(Hg)
0.1
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
5仪器设备
5.1原子荧光光谱仪;配备锑、汞空心阴极灯。
5.2电加热板(可控温,至少能达到200℃)。
5.3高压密闭微波消解仪。
5.4分析天平:感量0.1mg.
6分析步服
6.1试样制备
样品按材料进行拆分后,剪碎。如样品表面带有涂层,应先按GB/T22788—2008中7,1制备涂层样品。样品制备时应确保试样没有被污染。只要有可能,至少用两个相同的试样进行平行测定,同时进行空白试验。
6.2试样消解
6.2.1涂层材料
按照GB/T22788—2008中7,2规定的方法进行,试样消化完全后,继续加热至溶液残余体积约为1mL~2mL,加入盐酸(4.2)2ml赶酸,重复上述赶酸步骤3次,使溶液残余体积约为2mL,冷却,过滤,去离子水定容至50ml.,待分析。
6.2.2合金
称取0,1g~0.3g试样,精确至0.0001g,置于25ml.钢量瓶或适当大小的烧杯或其他容器中,依次加入3mL盐酸(4.2),1mL硝酸(4.1),在电热板上低温(的140℃)加热至试样溶解完全,参照6.2.1进行赶酸,冷却,过滤,去离子水定容至50ml.,待分析。
如试样反应缓慢较难消解,可重新称取0.1g~0.3g样品到一个聚四氟乙烯烧杯中,依次加入3ml.硝酸(4.1),1ml.硝酸(4.1)和1.5mL四氟硼酸(4.3》,在电热板上低温加热至样品溶解完全,参照6.2.1进行赶酸,冷却,过滤,去离子水定容至50mL,待分析。
6.2.3非金属材料的消解
按照SN/T2046-2008中7.2规定的方法进行。消解罐冷却至室温后,打开消解罐.将消解溶液置于电热板上低温加热,参照6.2.1进行赶酸,冷却,过滤,去离子水定容至50mL,待分析。
SN/T3249.3—2012
6.3测定
6.3.1样品的测定
分取1ml.待分析溶液,移入50mL容量瓶中,加入5ml.硫脲-抗坏血酸混合溶液(4.5),用2%盐酸溶液定容,混匀,放置15min后进行测试。
6.3.2工作条件的选择
原子荧光光诺仪工作条件参见附录A。
6.3.3绘制工作曲线
按仪器操作规程开启原子吸收荧光光谱仪,以2%盐酸作载流、以硼氢化钾溶液(4.6)作为还原剂,按浓度由低至高依次测定系列标准工作溶液,绘制工作曲线,各元素工作曲线的线性相关系数r应大于等于0.999。
6.3.4样品中锑、录的测定
在与6.3.2相同条件下测量试剂空白溶液和样品溶液。根据工作曲线和消解溶液的荧光强度值,仪器给出消解溶液中待测元素的浓度值。如果消解溶液中锑、汞的浓度超出工作曲线的线性范围,则应该对消解溶液用2%盐酸进行适当稀释至工作曲线范围水平后再测定。
7计算
试样中锑、汞的含量按式(1)计算:
(1)
式中;
X——含量,单位为微克每千克(pg/kg)
e?——样品消解溶液中锑,汞的浓度,单位为微克每升(pg/L);
ce—测定用空白溶液中锑,汞的浓度,单位为微克每升(pg/L);
V—试样消解液定容体积,单位为毫升(mL);
f——试样消解液稀释倍数;
m—试样质量,单位为克(g)。
B精密座
在重复性条件下,两次独立测试结果的差值不超过其算术平均值的10%。
SN/T3249.3-2012SN/T3249.3—2012
SN/T3249.3-2012
附录A
(资料性附录)
原子荧光光谱仪工作条件
表A.1原子荧光光谱仪参考工作条件
元素
负高压
V
灯电流
mA
辅相极电流
mA
原子化器高度mm
载气流速mL/min
屏蔽气流速mL/min
Hg
290
30
10
300
800
Sh
290
80
30
10
300
800
书号:155066-2-2
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