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光伏组件输出功率光致衰减问题的讨论

张光春陈如龙孙世龙李剑蒋仙温建军高瑞施正荣

无锡尚德太阳能电力有限公司

报告内容提要

引言（一）P型(掺硼)晶体硅太阳电池初始光致衰减机理掺硼)（二）P型(掺硼)晶体

硅片少子寿命及太阳电池光致衰减试验掺硼)晶体硅片少子寿命及太阳电池光致衰减试验

（三）光伏组件的初始光致衰减试验（四）光伏组件输出功率初始衰减问题的解决方案

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引言

光伏组件输出功率的衰减可分为两个阶段：光伏组件输出功率的衰减可分为两个阶段：

第一个阶段，我们可以把它称作初始的光致衰减，第一个阶段即光伏组件的输出功率在刚

开始使用的最初几天内发生较大幅度的下降，但随后趋于稳定。导致这一现象发生的主要

原因是P型（掺硼）晶体硅片中的硼氧复合体降低了少子寿命。第二个阶段，我们可以把

它称作组件的老化衰减，第二个阶段即在长期使用中出现的极缓慢的功率下降，产生的主

要原因与电池缓慢衰减有关，也与封装材料的性能退化有关。

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引言

为什么光致衰减现象又被关注：

P型(掺硼)的太阳电池的光致衰减现象是在七十年代发现的，为什么近期光伏产业界和

研究机构又对此产生了较大的关注呢？其主要原因是由于光致衰减导致的一些光伏组件的

功率下降幅度远远超出了客户所能接受的范围，这就使组件制造商面临着潜在的赔偿风险。

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引言

导致光伏组件功率出现早期下降的主要原因有：

（一）硅片质量差，导致电池出现较大幅度的初始光致

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衰减；（二）组件制造工艺不合理，出现诸如电池片隐裂、EVA交联度不好、脱层、

焊接不良等质量问题．（三）些组件制造商功率测试不准确或有意在输出功率上虚报。

一.P型(掺硼)晶体硅太阳电池初始光致衰减机理

30多年前，H.FischerandW.Pschunder等人首次观察到P型（掺硼）晶体硅太阳

电池的初始光致衰减现象．

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一.P型(掺硼)晶体硅太阳电池初始光致衰减机理

大家基本一致的看法是：大家基本一致的看法是：

光照或电流注入导致硅片中的硼和氧形成硼氧复合体，从而使少子寿命降低，引起电池

转换效率下降，但经过退火处理，少子寿命又可被恢复，其可能的反应为：

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光照或电流注入Bs＋Bs＋2Oi少子寿命高）（少子寿命高）退火处理BsO2i少子寿

命低）（少子寿命低）

一.P型(掺硼)晶体硅太阳电池初始光致衰减机理

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据文献中报道：据文献中报道（一）含有硼和氧的硅片经过光照后出现不同程度的衰

减（如图2、图3、图4所示）。硅片中的硼、氧含量越大，在光照或电流注入条件下产生的

硼氧复合体越多，少子寿命降低的幅度就越大。(二）在低氧、掺镓、掺磷的硅片中少子寿

命随光照时间的衰减幅度极小。

一.P型(掺硼)晶体硅太阳电池初始光致衰减机理

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图2低氧掺硼、有氧掺磷、有氧掺硼的Fz硅片和有氧掺硼Cz硅片少子寿命衰减随光

照时间的关系(2)

一.P型(掺硼)晶体硅太阳电池初始光致衰减机理

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图3掺硼、掺镓、掺磷的Cz硅片和硼掺杂的MCZ硅光照前后少数载流子寿命的变化(3)

一.P型(掺硼)晶体硅太阳电池初始光致衰减机理

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图4不同硼掺杂浓度硅片的少子寿命随时间的变化关系(4)

掺硼)晶体硅片少子寿命及太阳电池光致衰减试验二.P型(掺硼)晶体硅片少子寿命及

太阳电池光致衰减试验

(一）P型（掺硼）单/多晶硅片少子寿命的光致衰减试验１．原始硅片的光致衰减试验

硅片不做任何处理，测试光照前和光照后的少子寿命。

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试验结论：