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作业指导书

测微量具检定装置

文件编号

版本号

第1版

页数

共4页

1概述

外径千分尺是应用螺旋副传动原理，将回转运动变为直线运动的一种量具，主要用来测量各种外尺寸。

2依据文件：JJG21-2008《千分尺》

3检定条件

3.1环境温度：(20±5)℃

3.2环境湿度：≤70%RH

3.3检定前，受检尺和检定器具在检定室内平衡温度的时间应不少于2小时。

4使用的标准和配套设备

标准名称

测量范围

准确度等级/不确定度/最大允许误差

量块

（5.12～100）mm

5等

量块

（5.12～100）mm

4等

量块

（125～500）mm

5等

量块

（125～500）mm

4等

高精度光栅测长机

（0~1000）mm

U=(0.2～2.1)μm(k=2)

量块

（0.5~100）mm

4等

刀口尺

175mm

MPEV：2μm

测力仪

（0~15）N

MPE：±1%

万能工具显微镜

/

MPEV：2μm

5检定前准备

5.1检查所使用的标准及配套设备是否在检定/校准证书有效期。如不在有效期内，则一律不准使用，应及时与业务室联系，查明原因。

5.2实验室内规定为标准温度保持(20±5)℃，湿度≤70%RH，防尘、采光良好。

5.3检定前将标准器和其他配套设备、被检千分尺等温、平衡时间不小于2h。

6检定过程

6.1外观检定

外观检定主要是目力观察。千分尺及校对用的量杆不应该有碰伤、锈蚀、带磁或者其他缺陷，标尺标记应该清晰、均匀，数显外径千分尺数字显示应该清晰、完整。

千分尺应该附有调整零位的工具，测量上限大于或等于25mm的千分尺应该附有校对用的量杆。分度值。测量范围、出厂编号等应该详细标注。

6.2各部分相互作用检定

千分尺的微分筒的转动和测微螺杆的移动应平稳无卡滞现象。可调或可换测砧的调整或者装卸应顺畅，作用应该可靠，调零和锁紧装置的作用应切实有效。带有表盘的千分尺，表针转动应该灵活，无卡滞现象。数显外径千分尺各工作按钮应该灵活可靠。

6.3测微螺杆的轴向窜动和径向摆动检定

一般情况下，用手感检查测微螺杆的轴向窜动和径向摆动。

6.4测砧和测微螺杆测量面的相对偏移检定

一般情况下，目力观察千分尺测砧与测微螺杆测量面的相对偏移，（0~25）mm的千分尺可使两测量面直接接触观察其偏移量，测量上限大于25mm的千分尺可借助校对用的量杆进行检定。

6.5测力检定

千分尺的测力指的是测量面与球面接触时所作用的力，在检定时，使测量面与测力计的球工作面接触后进行。测得的数值应为（5~10）N。

6.6刻线宽度及宽度差检定

在工具显微镜上检定，在微分筒或刻线盘上任意抽检3条刻线，测得数值应满足检定规程要求。

6.7指针与刻线盘的相对位置检定

指针末端与刻度盘短刻线的相对位置可用目力估计。指针末端上表面至刻度盘表面的距离应用塞尺检定，上述检定应在刻度盘均匀分布的三个位置上进行。指针末端与刻度盘的刻线的宽度差在工具显微镜上检定。

6.8微分筒圆筒锥面棱边至固定套管刻线的相对位置检定

当测量下限调整正确后，使微分筒锥面的端面与固定套管任意毫米刻线的右边缘相切时，读取微分筒的零刻线与固定套管纵向刻线的偏移量。偏移数值不应该超过检定规程要求的数值。

6.9测量面的平面度检定

千分尺的测量面平面度应该用刀口尺检定，可用光隙法检定。具体操作为将刀口尺的刀刃位置垂直放置在千分尺测量面上进行，所有检定方位上出现的间隙均在中间部位或两端部位时，取其中一方位间隙量最大的作为平面度。当其中有的方位中间部位有间隙，而有的方位两端部位有间隙，则平面度以中间和两端最大间隙量值和确定。平面度数值不应超过检定规程要求的数值。

6.10数显外径千分尺的示值重复性检定

在相同测量条件下重复测量一块量块，测量5次分别读数，并记录下来，示值重复性以最大值与最小值的差值确定。重复性不应超过检定规程要求数值。

6.11数显外径千分尺任意位置时的数值漂移

在测量范围内的任意位置锁紧测微螺杆，观察1h内显示值的变化不超过规定值。

6.12两测量面的平行度检定

在检定测量面的平行度时，分别用4块量块测量，每个量块以其同一部位放入测量面的上、下、左、右位置测量，并记录下数值，求出其差值，在四组测量中，差值最大的作为被检尺的测量面的平行度。

6.13示值误差检定

外径千分尺示值误差用5等专用量块检定，数显千分