晶体消光比半波电压及波片相位延迟的智能综合测量仪.pdfVIP

(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利说明书

(10)申请公布号CN1696632A

(43)申请公布日2005.11.16

(21)申请号CN200510072558.1

(22)申请日2005.05.13

(71)申请人中国科学院上海光学精密机械研究所

地址201800上海市800-211邮政信箱

(72)发明人薄锋朱健强师树恒王勇

(74)专利代理机构上海新天专利代理有限公司

代理人张泽纯

(51)Int.CI

G01M11/02

G01N21/21

权利要求说明书说明书幅图

(54)发明名称

晶体消光比半波电压及波片相位延

迟的智能综合测量仪

(57)摘要

一种晶体消光比半波电压及波片相

位延迟的智能综合测量仪，其构成是：在

一脉冲调制光源的光束前进方向呈45°地设

一分光镜，在该分光镜的透射方向依次是

起偏器、待测样品、检偏器、第一光电探

测器、第一解调及放大电路和第一A/D转

换器，该第一A/D转换器的信号线接计算

机；该计算机的第一输出通过第一步进电

机驱动检偏器绕光轴旋转，该计算机的第

二输出通过第二步进电机驱动待测样品绕

光轴旋转；在分光镜的反射方向依次是衰

减片、第二光电探测器、第二解调及放大

电路、第二A/D转换器，该第二A/D转换

器的信号线接计算机。本发明不仅能在一

台仪器完成多个参数的综合测量，而且具

有测量精度高、可靠性好、操作方便的特

点。

法律状态

法律状态公告日法律状态信息法律状态

权利要求说明书

1、一种智能化晶体消光比、半波电压和波片相位延迟的综合测量仪，特征在于其

构成：一脉冲调制光源(1)，在该脉冲调制光源(1)的光束前进方向呈45°设一分光镜

(2)，在该分光镜(2)的透射方向依次是起偏器(3)、待测样品(4)、检偏器(5)、第一光

电探测器(6)、第一解调及放大电路(7)和第一A/D转换器(8)，该第一A/D转换器(8)

的信号线接计算机(9)的第一输入端；该计算机(9)的第一输出通过第一步进电机(10)

驱动检偏器(5)绕光轴旋转运动，该计算机(9)的第二输出通过第二步进电机(11)驱动

待测样品(4)绕光轴旋转运动；在所述分光镜(2)的反射方向依次是衰减片(12)、第二

光电探测器(13)、第二解调及放大电路(14)、第二A/D转换器(15)，该第二A/D转

换器(15)的信号线接计算机(9)的第二输入端。

2、根据权利要求1所述的智能化晶体消光比、半波电压和波片相位延迟的综合测

量仪，其特征在于所述的待测样品台设有两直流电极与一直流电源相连。

说明书

技术领域

本发明与晶体有关，属于偏振光学物理检测仪器，特别是一种晶体消光比、半波电

压及波片相位延迟的智能综合测量仪。

背景技术

晶体的消光比和半波电压是衡量晶体光学性能的重要参数，反映了晶体内部可能存

在的缺陷，如内应力、光学不均匀等，晶体的消光比和半波电压越小，说明晶体的

光学质量越好。晶体消光比测量的准确性直接影响晶体的研制、生产和应用。同样，

如果晶体的半波电压很高，会给Q开关的驱动电源带来很多麻烦，在Q开关精加

工以前，对其半波电压的测试筛选是非常必要的。

波片是物理光学中最基本和常用的光学元件之一，在光学隔离、偏光干涉中，常需

要精确测量波片的相位延迟。随着现代工业和科学技术的发展，波片在光学仪器中

起着越来越重要的作用，对波片精度要求越来越高，波片本身的精度检测也成为波

片制造中的一个重要任务。

测量晶体消光比、半波电压和波片相位延迟的传统方法是工作人员直接用光功率计

探测光强。该方法操作步骤繁琐，测量精度低，消光比只能测到10sup-2/sup

或10sup-3/sup，而且只是处在实验室应用阶段，目前国内市场上还没有相应

的综合测量