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ICS19.100J04
ICS19.100
中华人民共和国国家标准
GB/T31768.4—2015
无损检测闪光灯激励红外热像法
第4部分:检测系统
Non-destructivetesting—Infraredflashthermography—Part4:System
2015-06-02发布2016-03-01实施
2015-06-02发布
中国国
中国国家标准化管理委员会
GB/T31768.4—2015
前言
GB/T31768《无损检测闪光灯激励红外热像法》分为以下几个部分:
——第1部分:导则;
——第2部分:检测规范;
——第3部分:参考试块
——第4部分:检测系统。
本部分为GB/T31768的第4部分。
本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)提出并归口。
本部分起草单位:北京维泰凯信新技术有限公司、首都师范大学、中国特种设备检测研究院、航天科工三院8358所、广州飒特红外股份有限公司、南京诺威尔光电系统有限公司、重庆师范大学。
本部分主要起草人:冯立春、王迅、沈功田、杨贺、吴涛、陈力、曾智。
GB/T31768.4—2015
无损检测闪光灯激励红外热像法
第4部分:检测系统
1范围
GB/T31768的本部分规定了闪光灯激励红外热像法检测系统及其校准和安全性要求。本部分适用于闪光灯激励红外热像法无损检测系统的设备选型和使用。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T12604.9无损检测术语红外检测
GB19517国家电气设备安全技术规范
GB/T20737无损检测通用术语和定义
3术语和定义
GB/T12604.9和GB/T20737界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
全局快门globalshutter
全局积分snapshotshutter
同步积分synchronousshutter;synchronousexposure
成像传感器阵列中各像素的积分开始及结束时间一致的积分方式。
3.2
卷帘式快门rollingshutter
卷帘式积分rollingexposure
成像传感器阵列中像素积分开始及结束的时间按行所在的位置依次落后于第一行的积分方式。3.3
自动校准快门auto-shutter
内置校准遮挡片
热像仪用来对探测器进行非均匀校正的内置遮挡片。
4检测系统
4.1系统的组成
闪光灯激励红外热像检测系统由闪光灯(阵列)、热像仪(包括镜头及附件)、控制和数据处理系统(采集控制系统及处理软件组成)。见图1。
工
2
GB/T31768.4—2015
闪光灯
被测物体
图1检测系统组成示意图
4.2闪光灯阵列及附件
包括:
a)由一只或多只闪光灯组成,闪光灯宜为同型号;
b)可为被检物表面提供均匀的光脉冲照射;
c)闪光能量应满足加热激励的要求,输出能量宜可调整;
d)闪光脉冲的半高宽宜小于或等于5ms;
e)闪光灯阵列的放置应避免闪光能量直接入射到热像仪镜头;
f)阵列周围宜放置遮光设施,防止现场检测人员直接暴露在闪光中;
g)闪光灯前宜放置可透过闪光,不透过热像仪工作波段辐射的窗口材料,以避免闪光灯管的热辐射经被检物体表面反射进入热像仪视场。
4.3热像仪、镜头及其他附件
4.3.1热像仪的工作波段宜处于3μm~5μm或8μm~14μm大气窗口内,应根据被检物的红外光谱吸收及透射特性进行选择,如被检物在热像仪工作波段内透明,则应考虑更换不同波段热像仪或对被检物表面进行如涂漆或者覆膜等处理。
4.3.2应根据检测对空间分辨力及视场的需求选择热像仪及镜头,热像仪探测器像元数不宜少于320×240,热像仪、镜头与工作距离的选择与设置应满足需检测到的最小缺陷在探测器上成像至少覆盖
3×3个相邻像素。
4.3.3热像仪的测温范围应覆盖闪光灯激励后被检物的温度变化范围。
4.3.4热像仪探测器的温度分辨力应满足检测要求,NETD不宜大于100mK。
4.3.5热像仪探测器宜为全局快门类型,如使用的热像仪为卷帘式快门探测器,则应考虑卷帘式快门对检测结果的影响,并通过实验确定热像仪是否满足检测要求。
4.3.6热像仪全帧输出帧频不宜小于
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