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第44卷第2期光电子技术Vol.44No.2

2024年6月OPTOELECTRONICTECHNOLOGYJun.2024

DOI:10.12450/j.gdzjs.202402015

研究与试制

SUVA工艺改善色偏研究

*

张勇,李林,任驹,李凡,彭林,吴潘强

(成都京东方显示科技有限公司,成都610299)

摘要:为优化SUVA3工艺中左右视角色偏(CR)较UV²A工艺差的问题,从工艺、设计

(80/20)

等方向,进行了组合曝光(PBS+WGP模式)、ITO狭缝角度、偏光片角度(WGP)等条件的探究。

结果表明:组合曝光(PBS+WGP模式)、ITO角度、WGP角度均可优化色偏,但从色偏收益和量产

性角度考虑,ITOSlit角度+WGP角度调整更优,其最优条件为:WGP角度为f°(极限角度)+

ITO狭缝角度为I°,可将SUVA3工艺色偏优化至UV²A工艺水准,CR可达到35.6%。

(80/20)

关键词:方位角;氧化铟锡薄膜狭缝;金属线栅偏振器;色偏

中图分类号:TN27文献标志码:A文章编号:1005⁃488X(2024)02⁃0168⁃05

ImprovementofColorDeviationBasedonSUVAProcess

ZHANGYong,LILin,RENJu,LIFan,PENGLin,WUPanqiang

(ChengduBOEDisplaySci⁃techCo.,Ltd.,Chengdu610299,CHN)

Abstract:InordertoimprovethecolordeviationoftheSUVA3,bywhichtheleftandrightvisu⁃

alrolebias(CR(80/20))wasworsethanthatofUV²Aprocess,thecombinedenergyexposure(PBS+

WGPmode),ITOSlitangleandWGPanglewerestudiedfromtheprocess,designandotheras⁃

pects.Theexperimentalresultsshowedthatt

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