南京邮电大学计算机组成与结构实验三（通用寄存器实验）.docx

实验报告

（202/202学年第学期）

课程名称

计算机祖成与结构

实验名称

通用寄存器实验

实验时间

指导单位

指导教师

学生姓名

班级学号

学院(系)

计算机学院

专业

计算机科学与技术

PAGE1

实验报告

实验名称

通用寄存器实验

指导教师

李维维

实验类型

线上

实验学时

2

实验时间

实验目的和要求

1：实验目的

了解通用寄存器的组成和硬件电路，利用通用寄存器实现数据的置数、左移、右移等功能。

2：实验要求

按照实验步骤完成实验项目，实现通用寄存器移位操作。了解通用寄存器单元的工作原理运用。

二、实验环境(实验设备)

三、实验原理及内容

2.2.3实验说明

2.2.3.1寄存器实验构成：（如图2-2-1）

通用寄存器由2片GAL16V8构成8位字长的寄存器单元。8芯插座RA-IN作为数据输入端，可通过短8芯扁平电缆，把数据输入端连接到数据总线上。

数据输出由一片74LS244（输出缓冲器）来控制。用8芯插座RA-OUT作为数据输出端，可通过短8芯扁平电缆，把数据输出端连接到数据总线。判零和进位电路由1片GAL、1片7474和一些常规芯片组成，用2个LED（ZD、CY）发光管分别显示其状态。其中ZD为判零位显示灯,CY为进位位显示灯。

2.2.3.2通用寄存器单元的工作原理：（图2-2-2）

通用寄存器单元的核心部件为2片GAL16V8，它具有锁存、左移、右移、保存等功能。各个功能都由X1、X2信号和工作脉冲RACK来决定。当置ERA=0、X0=1、X1=1，RACK有上升沿时，把总线上的数据打入通用寄存器。可通过设置X0、X1来指定通用寄存器工作方式，通用寄存器的输出端Q0~Q7接入判零电路。LED（ZD）亮时，表示当前通用寄存器内数据为0。

输出缓冲器采用74LS244，当控制信号RA-O为低时，74LS244开通，把通用寄存器内容输出到总线；当RA-O为高时，74LS244的输出为高阻。

GAL方程如下：

Clk,OEpin1,11;

A,B,C,Dpin3,4,5,6;

QA,QB,QC,QDpin18,17,14,13;

S0,S1,SIL,SIRpin8,9,2,7;

Q=[QD,QC,QB,QA];

I=[D,C,B,A];

SL=[QC,QB,QA,SIL];

SR=[SIR,QD,QC,QB];

equations

Q:=S0S1I

#S0!S1SR

#!S0S1SL

#!S0!S1Q;

图2-2-2

2.2.3.3控制信号说明

信号名称

作用

有效电平

X0、X1

通用寄存器的工作模式

见附表

ERA

选通通用寄存器

低电平有效

RA-O

通用寄存器内容输出至总线

低电平有效

RACK

通用寄存器工作脉冲

上升延有效

M

在ALU单元中作为逻辑和算术运算的选择。在本实验中决定是否带进位移位

0带进位

1不带进位

2.2.4实验步骤

实验一：数据输入通用寄存器

把RA-IN（8芯的盒型插座）与CPT-B板上二进制开关单元中的J01插座相连(对应二进制开关H16~H23)，把RA-OUT（8芯的盒型插座）与数据总线上的DJ6相连。

把RACK连到脉冲单元的PLS1，把ERA、X0、X1、RA-O、M接入二进制拨动开关。（请按下表接线）。

控制信号

接入开关位号

RACK

PLS1孔

X0

H12孔

X1

H11孔

ERA

H10孔

RA-O

H9孔

M

H4孔

二进制开关H16~H23作为数据输入，置42H（对应开关如下表）。

H23

H22

H21

H20

H19

H18

H17

H16

数据总线值

D7

D6

D5

D4

D3

D2

D1

D0

8位数据

0

1

0

0

0

0

1

0

42H

置各控制信号如下：

H12

H11

H10

H9

H4

X0

X1

ERA

RA-O

M

1

1

0

0

1

按启停单元中的运行按钮，置实验平台为运行状态。

按脉冲单元中的PLS1脉冲按键，在RACK上产生一个上升沿，把42H打入通用寄存器。

此时数据总线上的指示灯IDB0~IDB7应该显示为42H。由于通用寄存器内容不为0，所以LED（ZD）灯灭。

实验二：寄存器内容无进位位左移实验

按照实验1数据输入的方法把数据42H打入通用寄存器中，数据总线上显示42H。实现左移功能，置各控制信号如下：

H12