中科飞测(688361)1H24收入同比增长27,产品矩阵逐步完善.pdfVIP

中科飞测(688361)1H24收入同比增长27,产品矩阵逐步完善.pdf

  1. 1、本文档共10页,可阅读全部内容。
  2. 2、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
  3. 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  4. 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  5. 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  6. 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  7. 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  8. 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多

证券研究报告

中科飞测:半导体量测的领先企业

公司为国内高端半导体质量控制设备领先企业,主要产品为高端半导体质量控制

设备,包括检测设备和量测设备,为半导体客户提供涵盖设备、智能软件和相关

服务的全流程良率管理解决方案。集成电路制造过程的步骤繁多,每一道工序的

良品率需保持几乎“零缺陷”的极高水平才能保证最终芯片的良品率;因此质量

控制贯穿集成电路制造全过程,是保证芯片生产良品率非常关键的环节。公司产

品在国内高端半导体质量控制设备市场实现了国产化的突破,在部分细分领域填

补了国产设备的空白。

图1:公司产品布局

资料来源:公司公告,国信证券经济研究所整理

集成电路工艺分为前道制程、中道先进封装和后道封装测试,质量控制贯穿于全

流程中:前道检测涉及光刻、刻蚀、薄膜沉积、清洗、CMP等环节质量控制的检

测;中道检测面向先进封装,主要为针对重布线结构、凸点与硅通孔等环节的质

量控制;后道测试主要是利用电学对芯片进行功能和电参数测试,包括晶圆测试

和成品测试。应用于前道制程和先进封装的质量控制可细分为检测(Inspection)

和量测(Metrology)。检测指在晶圆表面上或电路结构中,检测其是否出现异质

情况,如颗粒污染、表面划伤、开短路等对芯片工艺性能具有不良影响的特征性

结构缺陷;量测指对被观测的晶圆电路上的结构尺寸和材料特性做出的量化描述,

如薄膜厚度、关键尺寸、刻蚀深度、表面形貌等物理性参数的量测。

请务必阅读正文之后的免责声明及其项下所有内容2

证券研究报告

图2:应用于前道制程和先进封装的质量控制

资料来源:中科飞测招股说明书,国信证券经济研究所整理

公司覆盖行业头部客户,产品矩阵陆续完整。公司客户群体已覆盖逻辑、存储、

功率半导体、MEMS等前道制程企业,碳化硅、氮化镓、砷化镓等化合物半导体企

业,晶圆级封装和2.5D/3D封装等先进封装企业,大硅片等半导体材料企业以及

刻蚀设备、薄膜沉积设备、CMP设备等各类制程设备企业。形成基于九大系列设

备和三大系列软件产品组合的全方位良率管理解决方案;其中六大系列设备已经

在国内头部客户批量量产应用,市占率快速增长;其余三大系列设备均已完成样

机研发,并出货客户开展产线工艺验证和应用开发。自主开发的三大系列智能软

件已应用在国内头部客户,结合质量控制设准确测量并集中管理和分析芯片制造

过程良率相关数据,提升制造良率和产品性能。

图3:公司产品进展

资料来源:公司公告,国信证券经济研究所

公司研发团队覆盖光学、算法、软件、机电自动化等领域。董事长陈鲁博士曾任

RudolphTechnologies(现创新科技)系统科学家、量测龙头科磊半导体资深科

学家,深耕行业多年。在此基础上,公司拥有经验丰富的光学、算法、软件

您可能关注的文档

文档评论(0)

535600147 + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

版权声明书
用户编号:6010104234000003

1亿VIP精品文档

相关文档