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电子技术基础实验指导教程 教案 第8章 逻辑门电路实验.doc

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课题

8.1TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试

教学目的

1.掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法。

2.掌握TTL器件的使用规则。

3.进一步熟悉数字电路实验装置的结构、基本功能和使用方法。

主要教学

内容

在合适的位置选取一个14P插座,按定位标记插好74LS20集成块。

1.验证TTL集成与非门74LS20的逻辑功能

按图8-6接线,门的4个输入端接逻辑电平开关的输出插口,以提供“0”与“1”电平信号,开关向上输出逻辑“1”,开关向下输出逻辑“0”。门的输出端接由发光二极管(LED)组成的逻辑电平显示器(又称0-1指示器)的显示插口,LED亮为逻辑“1”,不亮为逻辑“0”。按表8-2所示的真值表逐个测试集成块中两个与非门的逻辑功能。74LS20有4个输入端,有16个最小项,在实际测试时,只要通过对输入1111、0111、1011、1101、1110这5项进行检测,就可判断其逻辑功能是否正常。

图8-6与非门逻辑功能测试电路

表8-2逻辑功能真值表

输入

输出

1

1

1

1

0

1

1

1

1

0

1

1

1

1

0

1

1

1

1

0

2.74LS20主要参数的测试

(1)分别按图8-2、图8-3、图8-5(b)连线并进行测试,将测试结果记入表8-3。

表8-374LS20主要参数测试表

/mA

/mA

/mA

/mA

=T/6(ns)

(2)接图8-4连线,调节电位器,使从0V向高电平变化,逐点测量和的对应值,记入表8-4。

表8-4和的对应值

/V

0

0.2

0.4

0.6

0.8

1.0

1.5

2.0

2.5

3.0

3.5

4.0

/V

教学方法

实验教学

教具

数字电子实验台

作业

1.记录、整理实验结果,并对结果进行分析。

2.画出实测的电压传输特性曲线,并从中读出各有关参数值。

所用教材

《电子技术基础实验指导教程》电子工业出版社

备注

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8.2CMOS集成门电路的逻辑功能与参数测试

教学目的

1.掌握CMOS集成门电路的逻辑功能和器件的使用规则。

2.学会CMOS集成门电路主要参数的测试方法。

主要教学

内容

1.CMOS与非门CC4011参数测试(方法与TTL电路相同)。

(1)测试CC4011一个门的、、、。

(2)测试CC4011一个门的传输特性(一个输入端作为信号输入,另一个输入端接逻辑高电平)。

(3)将CC4011的三个门串接成振荡器,用双踪示波器观测输入、输出波形,并计算tPd值。

2.验证CMOS各门电路的逻辑功能,判断其好坏。

验证与非门CC4011、与门CC4081、或门CC4071及或非门CC4001的逻辑功能。以CC4011为例:测试时,选好某一个14P插座,插入被测器件,其输入端A、B接逻辑电平开关的输出插口,其输出端Y接至逻辑电平显示器的输入插口,拨动逻辑电平开关,逐个测试各门的逻辑功能,并记入表8-5。

表8-5门电路的逻辑功能真值表

输入

输出

A

B

0

0

0

1

1

0

1

1

3.观察与非门、与门、或非门对脉冲的控制作用。

将与非门按图8-7(a)、(b)接线,将一个输入端接连续脉冲源(频率为20kHz),用双踪示波器观察两种电路的输出波形,并记录。然后测定与门和或非门对脉冲的控制作用。

图8-7与非门对脉冲的控制作用

教学方法

实验教学

教具

数字电子实验台

作业

1.整理实验结果,用坐标纸画出传输特性曲线。

2.根据实验结果,写出各门电路的逻辑表达式,并判断被测电路的功能好坏。

所用教材

《电子技术基础实验指导教程》电子工业出版社

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课题

8.3集成逻辑电路的连接和驱动

教学目的

1.掌握TTL、CMOS集成电路的输入电路与输出电路的性质。

2.掌握集成逻辑电路相互连接时应遵守的规则和实际连接方法。

主要教学

内容

测试TTL电路74LS00及CMOS电路CC4001的输出特性。74LS00与非门和CC4001或非门的引脚排列如图8-9所示。

图8-9

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