红外滤光片的光谱发射率测量研究.pdf

摘要

红外滤光片在红外成像系统、红外探测器组件、红外望远镜终端仪器等系统中都

有重要应用，其自身辐射属于杂散辐射，在暗弱目标探测仪器研制中，必须知道红外

滤光片的发射率数值，以便能够对元件带来的杂散辐射进行有效控制。近年来，国内

外研究学者针对半透明固体材料的光谱发射率展开了一系列研究，建立了许多半透明

材料的光谱发射率数据。对红外滤光片光谱发射率的研究较少，尤其是中低温温度下

的相关数据尤其缺乏。红外滤光片的辐射信号较弱，发射率较低，对测量方法和测量

装置有着较高要求，因此，本论文针对红外滤光片光谱发射率测量需求，提出基于多

元定标的透明材料发射率测量方法，利用杂散光分析软件Tracepro验证了测量方法的

可行性，并采用傅里叶红外光谱仪测量装置，对红外滤光片光谱发射率测量方法进行

了验证性研究。

首先，针对透明光学元件红外滤光片的材料特性，提出基于多元定标的透明材料

发射率测量方法。通过调制黑体温度、样品温度的方式来间接得到红外滤光片的光谱

发射率和透射率值，利用Tracepro软件进行光学系统模拟仿真，预设红外滤光片表面

的发射率值和透射率值，仿真分析红外滤光片辐射面的热辐射，改变黑体和样品温度，

分析辐射强度变化，基于多元定标模型方程的拟合系数计算出红外滤光片的发射率和

透射率，与预设值进行比较，以验证多元定标法测量红外滤光片的模型的可行性。通

过Tracepro对发射率测量系统进行热辐射仿真，确定信号和背景电子数，建立光电子

信噪比模型，分析黑体和样品的最佳温度范围及可行性研究，为实测工作提供指导。

然后，采用实验室已有的傅里叶红外光谱仪测量装置对多元定标法进行了实验验

证，分别在有样品、无样品时测量黑体及样品的辐射信号并记录。结合红外滤光片的

表面材质特性，采用COMSOL温度场仿真与热电偶接触式测温相结合的方式确定红外

滤光片通光表面的真实温度。

最后，利用多元定标法测量的原理公式，通过MATLAB线性回归拟合计算出红外

滤光片在3-5μm波段的光谱透过率和发射率，并对计算结果进行不确定度合成分析，

结果不确定度在3%以内。将透射率值与使用傅里叶红外光谱仪直接测得的透射率作对

比，各波长处差值在0.01-0.12之间。在带宽内，红外滤光片的发射率先较小后增大，

中心波长处发射率值为0.04，带宽外，红外滤光片因吸收截止而呈现出较强热辐射。

将发射率值与相关的国内外文献[1,2]中的数据进行了对比。结果表明，本文测量红外

滤光片的方法具有较高的准确性和可行性。

关键词：光谱发射率，多元定标法，红外滤光片，温度，波长

ABSTRACT

Infraredfiltersplayasignificantroleinvarioussystemssuchasinfraredimagingsystems,infrared

detectorcomponents,andterminalinstrumentsofinfraredtelescopes.Theypossessinherentradiationinthe

formofstrayradiation.Inthedevelopmentofinstrumentsfordetectingweakanddimtargets,itiscrucialto

determinetheemissivityvaluesofinfraredfiltersinordertoeffectivelycontrolthestrayradiationintroduced

bythesecomponents.Inrecentyears,bothdomesticandinternationalresearchershaveconductedaseriesof

studiesonthespectralemissivityofsemitransparentsolidmaterials,establishingawealthofspectral

emissivitydataforsuchmaterials.However,therehasbeenrelati