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*電子技術實驗基礎知識數字積體電路系列產品TTL器件74系列——民用系列：0~70°C54系列——軍用系列：-55~120°C肖特基系列74Sxx低功耗系列74Lxx高速系列74Hxx標準系列74xx類型型號國內對應系列74LSxx低功耗肖特基系列T4000系列T3000系列T2000系列T0000系列CMOS器件分為4000、40000和14000系列積體電路封裝和引腳排列雙列直插DIP(DoubleInLinePackage)表面貼(扁平)SMD(SurfaceMountingDevice)74LS001234567141312111098凹口或小圓孔作為標記DIP我國積體電路型號命名方法GB3430-89開頭部分第一部分第二部分第三部分第四部分C字母數字字母字母封裝器件工作溫度器件的型號器件類型表示器件符合國家標準CT54S20MD多層陶瓷雙列直插-55~125°C肖特基系列型號TTL電路符合國家標準例2：CT54S20MD雙四輸入與非門國外積體電路型號命名方法不同的公司有不同的命名方法一般由首碼字母（字頭）、代表型號的數字部分、尾注字母組成不同的公司用不同的字頭表示電路類型數字積體電路使用注意事項嚴禁電源極性顛倒！嚴禁帶電插拔元器件！輸出端不能並聯使用(OC、TSL、TG門除外)TTL電路的多餘輸入端最好不要懸空，以免干擾侵入，特別是複位端和置位端。CMOS電路的多餘輸入端不允許懸空。多餘輸入端應根據實際需要作適當處理（接電源、接地或與有用的輸入端並聯）。數字實驗箱介紹電源中COM1、COM2不相連。晶片中電源、GND沒有連好，需自己接線。晶片不要亂拔或插。數據開關：10邏輯開關：提供手動脈沖。左邊接線時，按下開關提供下降沿（）；右邊接線時，按下開關提供上降沿（）。數字電路實驗常見問題功能失效——實驗前應進行元件的功能測試器件故障接線錯誤最容易發生的錯誤如多接、漏接、錯接、元件引腳未插到插座上連線過長、引腳懸空也可能引入干擾（插線不超過3層，電源、CP端加濾波電容）特性失效：如帶負載能力（靜態特性）、上升沿、下降沿、延遲時間等（動態特性）
——專用積體電路測試儀*
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