《高频介质基板的介电常数和介质损耗角正切测试方法—带状线测试法》（征求意见稿）.pdf

ICSXX.XXX.XX

CCSXXXX

团体标准

T/CSTMXXXXX—2022

高频介质基板的介电常数和介质损耗角正

切测试方法——带状线测试法

Testmethodfordielectricconstantanddielectriclosstangentofhigh-frequency

dielectricsubstrate:Striplinetestmethod

2022-XX-XX发布2022-XX-XX实施

中关村材料试验技术联盟发布

T/CSTMXXXXX—2022

引言

本标准规定1GHz~40GHz宽带范围内的介电常数和介质损耗角正切以及介电常数温度系数和损

耗因子温度系数的测试方法。对比国内外现有标准情况，本标准改进优化的地方：（1）根据发展需求，

添加复介电常数的温漂测试（TCDk、TCDf）方法标准，补充国内外标准欠缺；（2）细化了测试步骤，

包括：样品预处理，测试操作步骤，高/低温测试时温度所需稳定时间，以及对所测所需金属导带的要

求，提高测试的一致性和可重复性；（3）对比国内外标准，测试频段兼顾5G通讯Sub-6和毫米波频段

的要求，覆盖1GHz~40GHz；（4）描述了在试验过程中影响试验结果的注意事项。

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T/CSTMXXXXX—2022

高频介质基板的介电常数和介质损耗角正切测试方法——带状线测

试法

重要提示（危险或警告或注意）：使用本文件的人员应有正规实验室工作的实践经验。本文件并未

指出所有可能的安全问题。使用者有责任采取适当的安全和健康措施，并保证符合国家有关法规规定的

条件。

1范围

本文件规定了带状线测试方法测试高频介质基板的介电常数和介质损耗角正切。

本文件适用于测试高频介质基板及介电材料在微波频率范围内的介电常数和介质损耗角正切。

测试频率范围：=1GHz~40GHz；

测试介电常数范围：=2.0~20.0；

测试损耗角正切值范围：tan=2.0×10−4~1.0×10−2。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅

该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。

GB/T2036-94印制板电路术语

3术语和定义

GB/T2036界定的以及下列术语和定义适用于本文件。

3.1

定义1介电常数

规定形状电极之间填充电介质获得的电容量于相同结构电极间以真空或空气介质时的电容量之比。

[来源：GB/T2036—94]

3.2

定义2介质损耗角正切

对电介质施加正弦波电压时，通过介质的电流相量超前于电压相量间的相角的余角称为损耗角，对该损

耗角取正切函数值，即为介质损耗角正切值。

[来源：GB/T2036—94]

4符号和缩略语

：介电常数，同义词：Dk

tan：介质损耗角正切，同义词：Df

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