从理论到实践：JTAG与IJTAG测试架构的自动设计与实现.docx

下载文档

1
0
约4.48万字
约 34页
2025-03-26 发布于上海
举报
版权申诉
保障服务

从理论到实践：JTAG与IJTAG测试架构的自动设计与实现.docx

1、本文档共34页，其中可免费阅读11页，需付费200金币后方可阅读剩余内容。
2、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。
3、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
4、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。

从理论到实践：JTAG与IJTAG测试架构的自动设计与实现

一、引言

1.1研究背景与意义

随着半导体技术的飞速发展，芯片的集成度不断提高，功能日益复杂。从早期简单的小规模集成电路，到如今高度集成的片上系统（SoC），芯片内部集成了数以亿计的晶体管和多种复杂的功能模块，如中央处理器（CPU）、图形处理器（GPU）、内存控制器等。这种技术演进在提升芯片性能和功能的同时，也给芯片测试带来了前所未有的挑战。

传统的芯片测试方法，如基于探针的测试技术，在面对新型芯片封装和复杂电路结构时，逐渐显得力不从心。以球栅阵列（BGA）封装为例，其引脚隐藏在芯片底部，使得探针难以接触，无法进行有效的电气连接和