一种Intel-S10的DDR控制器自检方法.pdfVIP

信息记录材料２０２５年６月第２６卷第６期

一种Ｉｎｔｅｌ⁃Ｓ１０的ＤＤＲ控制器自检方法

章伟，王红展

（中兴通讯股份有限公司广东深圳５１８０００）

【摘要】为了解决现代计算机系统中双倍数据速率（ｄｏｕｂｌｅｄａｔａｒａｔｅ，ＤＤＲ）内存条稳定性与性能的问题，本文提出了一种并行压

力自检方法，以提升ＤＤＲ内存的商用质量。ＤＤＲ自检测试是确保内存正常工作的关键工序，它不仅能识别和解决潜在的内存问题，

还能提高系统的可靠性和稳定性。传统的ＤＤＲ自检测试一般采用遍历地址线和数据线的方法，这种方法较为简单，仅能发现易复现

的故障，无法识别随机异常等较难复现的故障。为此，本文利用现场可编程门阵列（ｆｉｅｌｄｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅｇａｔｅａｒｒａｙ，ＦＰＧＡ）内部实例化

ＤＤＲ知识产权模块（ｉｎｔｅｌｌｅｃｔｕａｌｐｒｏｐｅｒｔｙ，ＩＰ），实现了一种新的ＤＤＲ高速内存管理方法。分析结果表明：该方法对提升产品的商用质

量具有重要的参考价值。

【关键词】现场可编程门阵列（ＦＰＧＡ）；内存控制器；双倍数据速率（ＤＤＲ）自检

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【中图分类号】ＴＰ３６８１【文献标识码】Ａ【文章编号】１００９５６２４（２０２５）０６０２１００４

０引言架构和工作原理，结合最新的ＤＤＲ标准（如ＤＤＲ４），提出

近年来，高性能计算设备和数据中心服务器设备发展一种ＤＤＲ器件的高效自检方法。研究将围绕以下核心

迅速。在高性能计算领域，需要处理大量的数据和复杂的展开。

算法，数据中心则需要处理大量的数据流量和存储需求，（１）ＤＤＲＩＰ自检方法。介绍基于ＤＤＲＩＰ自检流程，

因此，对内存的数据传输速率有很高的要求，双倍数据速确保自检效果，且设计满足性能与稳定性要求。

率（ｄｏｕｂｌｅｄａｔａｒａｔｅ，ＤＤＲ）内存的高速率和大容量使其成（２）ＤＤＲＩＰ自检效率提升方法。介绍基于ＤＤＲＩＰ

为数据中心的理想选择。ＤＤＲ５等最新一代ＤＤＲ技术能的自检流程读写解耦测试功能研究，提升多片ＤＤＲ的测

［１］试效率。

够满足这些高性能需求，成为存储器件的首选。

随着ＤＤＲ速率和容量的不断提升，ＤＤＲ器件在使用１ＤＤＲ控制器的自检功能

过程中可能会遇到多种问题，这些问题可能源于器件本本文主要介绍基于Ｑｕａｒｔｕｓ例化Ｓ１０芯片的ＤＤＲ控

［２］

身、系统配置、电源管理、信号完整性、散热条件以及与其制器的ＩＰ自检方法，研究了Ｑｕａｒｔｕｓ提供的自动测试生

他硬件或软件的交互等多个方面，极大地影响了设备的可成（ａｄｖａｎｃｅｄｔｒａｆｆｉｃｇｅｎｅｒａｔｏｒ，ＡＴＧ）测试模块的原理，并按

靠性和稳定性，这些问题需要在系统启动之初或设备出厂照业务实践ＤＤＲ使用方式，对该测试模块进行功能优化

之前被检测出来。来提升ＤＤＲ自检效率，完成ＤＤＲ压力测试要求。

ＤＤＲ的自检一般包括以下测试方法。１１自检方法

（１）固定模式。向ＤＤＲ内存写入固定的数据模式当ＤＤＲ初始化及校准完成后，自检模块发送写操作

（如全０、全１、棋盘模式等），然后从ＤＤＲ内存读取之前写和读操作命令，如果返回的读数据与预期读数据不一致，

入的固定数据模式，并验证读取的数据是否与预期一致并拉高错误比较标志；如