纳米尺寸评估.pptVIP

6.6光子相关谱基本过程：激光→作布朗运动的粒子→散射光→叠加成干涉图形和具有散射强度。布朗运动引起的这种强度变化出现在微秒至毫秒级的时间间隔中，粒子越大粒子位置变化越慢，强度变化(涨落)也越慢．光子相关谱的基础就是测量这些散射光涨落，根据在一定时间间隔中这种涨落可以测定粒子尺寸.第30页，共43页，星期日，2025年，2月5日6.6光子相关谱自相关函数[theautocorrelationfunction(ACF)]自相关函数可定义为G(?)=?I(t)·I(t+?)?)这里G(?)为自相关函数，I(t)为在时间为t时探测到的散射光强度,I(t+?)为在时间为t+?时探测到的散射光强度，?为延迟时间,??表示括号内的量对时间平均．第31页，共43页，星期日，2025年，2月5日纳米尺寸评估第1页，共43页，星期日，2025年，2月5日高压合成纳米晶理论根据热力学理论，晶粒度r可以表示为成核速率I和生长速率U的函数[3]：高压下形成晶体的晶粒度r(P)与常压下的晶粒度r(P0)之比为[16]：其中?GI为成核活化能，?GII为晶体生长活化能，R为气体常数，T为温度。第2页，共43页，星期日，2025年，2月5日高压合成纳米晶理论通常，成核活化能随压力的增加而降低[4],即：?GI(P)?GI(P0)。因此成核速率随压力的增加而增加，即：I(P)I(P0)。另一方面，晶体生长活化能(?GII)主要取决于扩散活化能，但压力会抑制原子扩散，因而随着压力的增加原子扩散会变得更加困难。这样在压力作用下晶体生长活化能会变大，即：?GII(P)?GII(P0)；同时压力也会降低晶核的生长速率，因此有U(P)U(P0)。由方程(2)可知，r(P)r(P0)。这说明在凝固过程中高压在促进晶体成核的同时也会抑制晶体的生长，因此可以比在常压低的多的冷速条件下用熔态淬火方法获得晶粒细化组织或块状纳米材料。第3页，共43页，星期日，2025年，2月5日高压下合成Mg-Zn纳米合金(a)第4页，共43页，星期日，2025年，2月5日第六章纳米微粒尺寸的评估（1）???关于颗粒及颗粒度的概念????（ⅰ）晶粒：是指单晶颗粒，即颗粒内为单相，无晶界。（ⅱ）一次颗粒：是指含有低气孔率的一种独立的粒子，颗粒内部可以有界面，例如相界、晶界等。（ⅲ）团聚体：是由一次颗粒通过表面力或固体桥键作用形成的更大的颗粒。团聚体内含有相互连接的气孔网络。团聚体可分为硬团聚体和软团聚体两种。团聚体的形成过程可以使体系能量下降。（ⅳ）二次颗粒：是指人为制造的粉料团聚粒子。例如制备陶瓷的工艺过程中所指的“造粒”就是指制造二次颗粒。第5页，共43页，星期日，2025年，2月5日第六章纳米微粒尺寸的评估（2）颗粒尺寸的定义对球形颗粒来说，颗粒尺寸（粒径）即指其直径。对于不规则颗粒，尺寸的定义常为等当直径，如体积等当直径，投影面积直径等等。第6页，共43页，星期日，2025年，2月5日6.1电镜简介照明源是电子束,通过聚光镜系统的电子透镜使电子束聚焦在样品上,再经成像系统的电子透镜形成所观察的图象.加速电压U=200kV,电子束波长?=0.0025nm,因此分辨率极高.第7页，共43页，星期日，2025年，2月5日6.2电镜的分类透射电子显微镜(TEM)扫描电子显微镜(SEM)电子探针显微分析(EPMA)扫描透射电子显微镜(STEM)扫描隧道电子显微镜(STM)原子力显微镜(AFM)第8页，共43页，星期日，2025年，2月5日6.3电镜分析的优点可作形貌观察并具有高分辨率(可达1?)可作结构分析(选区电子衍射,微衍射)可作成分分析(X射线能谱,电子能量损失谱)观察材料的表面与内部结构,同时研究材料的形貌,结构与成分.第9页，共43页，星期日，2025年，2月5日第10页，共43页，星期日，2025年，2月5日6.4透射电镜观察法（ⅰ）交叉法：用尺或金相显微镜中的标尺任意的测量电镜照片上约600个颗粒的交叉（纵横）长度，然后将交叉长度的算术平均值乘上一统计因子来获得平均粒径；（ⅱ）测量约100个颗粒中每个颗粒的最大交叉长度，颗粒粒径为这些交叉长度的算术平均值；第11页，共43页，星期日，2025年，2月5日6.4透射电镜观察法（ⅲ）求出颗粒的粒径或等当粒径，画出粒径与不同粒径下的微粒数的分布图，如图6-1所示。将分布曲线中峰值对应的颗粒尺寸作为平均粒径。缺点:选区具有随意性.第12页，共43页，星期日，2025年，2