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MNT背光源Sheet内MF碎屑异物源
FAReportBOEOTQASQE1科
Summary1）Process：TPVBOEOTMDLLine2）Model：HT190WG1-600HT190WG3-1003）Failure：ForgeinMaterial4）Quanltity：41EA1.Summary-TPV端及MDLLine异物不良原因分析，拟定问题所在，寻找改善方案。2.Purpose3.FailureAnalysisResult-综合分析成果，Insp.Miss旳可能性很小，主要原因是MovingFM，后期异物从可视区域外进入可视区域内。4.ImprovementPlanNo.PlaceCauseRateFAResult1TPV@SYDCTHT190WG1BLUSheet内MF碎屑81.50%（13ea/16ea）MF与B/C、LampCoverScr.产生，可能原因如下：-B/CChamfer状态不好-L/C边沿与MF角落Scr.产生（设计有关）-B/CHook与MF组装时Scr.产生（设计有关）2MDLFinal@SYDHT190WG1BLUSheet内MF碎屑64.3%（9ea/14ea）3MDLFinal@CTHT190WG3BLUSheet内MF碎屑90.9%（10ea/11ea）1）组装手法变更：先长边上后长边下→先左边后右边~09/192）BackCoverChamfer状态调查确认~09/263）19“BLU一次性组装OK品效果测试~Onoing4）LampCover干涉位置尺寸进行下限管控调整5）检讨BLUMF与LampCover干涉有关尺寸进行Spec变更~需有关技术部门帮助
1.TPV端Sheet内异物情况分析@SYDCTHT190WG1ReflectorSheetLGPDiffusionSheetLowerPrismSheetUpperPrismSheetProtectorSheetab100%cdefA1A2A342.9%7.1%14.3%B1B2B314.3%0.0%14.3%C1C2C37.1%0.0%0.0%1.水平位置别分析水平位置集中在A1，为L/R末端与MF角落干涉位置2.垂直位置别分析垂直位置集中在b，即LGP与DifussionSheet之间3.Size别分析异物大小远不小于0.5mm，现象明显，Miss可能性小4.成份别分析成份主要是MF碎屑，片状且周围存在摩擦痕迹
2.MDLFinalSheet内异物情况分析@SYDHT190WG1ReflectorSheetLGPDiffusionSheetLowerPrismSheetUpperPrismSheetProtectorSheetab100%cdefA1A2A323.0%0.0%7.0%B1B2B30.0%0.0%0.0%C1C2C338.0%0.0%30.0%1.水平位置别分析水平位置集中在A1，为L/R末端与MF角落干涉位置2.垂直位置别分析垂直位置集中在b，即LGP与DifussionSheet之间3.Size别分析异物大小基本上在0.3mm以上4.成份别分析成份主要是MF碎屑，片状且周围存在摩擦痕迹
3.MDLFinalSheet内异物情况分析@CTHT190WG3ReflectorSheetLGPDiffusionSheetLowerPrismSheetUpperPrismSheetProtectorSheetab90.9%c9.1%defA1A2A345.5%9.1%0.0%B1B2B39.1%0.0%0.0%C1C2C336.4%0.0%0.0%1.水平位置别分析水平位置集中在A1/C1，L/R末端与MF角落干涉位置2.垂直位置别分析垂直位置集中在b，即LGP与DifussionSheet之间3.Size别分析异物大小基本上在0.3mm以上4.成份别分析成份主要是MF碎屑，片状且周围存在摩擦痕迹结论：边角位置、LGP与D/S之间、Size较大、MF碎屑，综合以上成果，原因为摩擦产生碎屑，经移动后进入可视区域，为进行性异物。
4.MF碎屑成份对比分析0.90mm0.80mm0.76mm1.00mm0.40mm0.80mm1.00mm0.70mm1）MF碎屑成份@TPVSamples2）MF碎屑成份@MDLSYDSamples2）MF碎屑成份@MDLCTSamples以上MF碎屑共同特征：片状、边沿锋利、Size较大等，由此可鉴定产生
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