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2025年质量工程师最终检验之尺寸与几何公差测量技术专题试卷及解析1

2025年质量工程师最终检验之尺寸与几何公差测量技术专

题试卷及解析

2025年质量工程师最终检验之尺寸与几何公差测量技术专题试卷及解析

第一部分：单项选择题（共10题，每题2分）

1、在几何公差中，用于限制实际被测要素相对于基准要素在方向上变动量的公差

项目是？

A、位置度

B、同轴度

C、垂直度

D、圆柱度

【答案】C

【解析】正确答案是C。垂直度属于方向公差，用于限制实际要素对基准在垂直方

向上的变动量。A位置度属于位置公差，B同轴度属于跳动公差，D圆柱度属于形状公

差，均不符合题意。知识点：几何公差分类及特征。易错点：混淆方向公差与位置公差

的功能区别。

2、使用千分尺测量轴径时，正确的读数方法是？

A、直接读取主刻度数值

B、主刻度加微分筒刻度

C、微分筒刻度减主刻度

D、估读微分筒分度值

【答案】B

【解析】正确答案是B。千分尺读数=主刻度读数+微分筒读数，这是基本测量原

理。A选项忽略微分筒读数，C选项逻辑错误，D选项估读仅用于游标卡尺。知识点：

测量工具使用规范。易错点：混淆不同量具的读数规则。

3、GDT中最大实体状态（MMC）适用于？

A、所有几何公差项目

B、仅尺寸公差

C、位置度、同轴度等关联要素

D、平面度等单一要素

【答案】C

【解析】正确答案是C。最大实体状态主要用于关联要素（如位置度、同轴度）的

公差补偿，A、B、D选项均不符合应用条件。知识点：GDT修饰符号应用。易错点：

误认为MMC适用于所有几何公差。

4、三坐标测量机（CMM）的工作原理基于？

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A、光学干涉测量

B、接触式坐标采集

C、激光三角测量

D、影像比对测量

【答案】B

【解析】正确答案是B。CMM通过探针接触工件采集三维坐标数据，A选项用于

激光干涉仪，C选项用于激光扫描仪，D选项用于影像仪。知识点：测量设备原理。易

错点：混淆不同测量技术的适用场景。

5、评定平面度误差时最常用的方法是？

A、最小区域法

B、两端点连线法

C、三点法

D、对角线法

【答案】A

【解析】正确答案是A。最小区域法符合ISO标准定义，B、C、D均为近似方法。

知识点：形状误差评定准则。易错点：误将简易测量方法当作标准评定方法。

6、孔轴配合中，过渡配合的特征是？

A、可能产生间隙或过盈

B、总是产生间隙

C、总是产生过盈

D、公差带完全重叠

【答案】A

【解析】正确答案是A。过渡配合的孔轴公差带部分重叠，实际配合可能为间隙或

过盈。B、C描述的是间隙/过盈配合，D描述的是过盈配合。知识点：配合类型判定。

易错点：混淆公差带位置关系与配合性质。

7、测量系统分析（MSA）中，重复性指的是？

A、不同操作者的测量一致性

B、同一操作者的测量一致性

C、测量方法的稳定性

D、测量设备的精度

【答案】B

【解析】正确答案是B。重复性反映同一操作者用同一设备重复测量的变差，A是

再现性，C是稳定性，D是准确度。知识点：MSA变差来源。易错点：混淆重复性与

再现性的定义。

8、圆度公差带的形状是？

2025年质量工程师最终检验之尺寸与几何公差测量技术专题试卷及解析3

A、两个同心圆

B、两个同轴圆柱

C、一个圆

D、一个圆柱

【答案】A

【解析】正确答案是A。圆度公差带是半径差为公差值的两同心圆区域，B是圆柱

度，C、D描述不完整。知识点：公差带形状特征。易错点：混淆圆度与圆柱度的公差

带形状。

9、使用高度尺测量平