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一种MCU的智能测试系统设计.pdf

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    摘要

    集成电路（IntegratedCircuit,IC）是现代信息技术的核心基础，其测试技术

    不仅能够验证芯片的可靠性和稳定性，更是确保产品功能实现的关键环节。目前，

    传统小型测试系统在功能覆盖面和测试效率方面存在不足，而大型测试系统性能

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    成本和高效率的芯片测试系统，并以市面上广泛使用的STC89C52RC芯片为例进

    行测试验证。主要工作内容如下：

    （1）以STM32F103ZET6微控制器为核心，构建了完整的硬

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