基于机器视觉的探针自动定位测试系统：技术、实现与应用.docx

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2025-12-17 发布于上海
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基于机器视觉的探针自动定位测试系统：技术、实现与应用

一、绪论

1.1研究背景与意义

1.1.1研究背景

在数字化和自动化飞速发展的当下，各个行业对高效、精准的测试需求与日俱增。以电子制造行业为例，随着电子产品的功能愈发复杂、集成度不断提高，对其性能和质量的测试要求也变得极为严苛。传统的测试方法在面对大量的数据和复杂的测试流程时，暴露出诸多不足。在一些涉及大规模数据采集和分析的测试场景中，人工操作不仅效率低下，而且容易出现人为误差，很难实现完全自动化。在电子芯片的测试过程中，若采用人工操作探针进行测试，不仅速度慢，还可能因人为因素导致测试结果不准确。这不仅会影响产品的生产进度，还可能对产