川大口腔正畸学课件03 X线头光影测量分析.pptxVIP

X线头影测量分析

Cephalometrics

四川大学华西口腔医学院

正畸学系李宇

Beautyisonlyskindeep?

2常用头影测量标志点及平面

3常用硬组织、软组织测量项目

4常用X线头影测量分析法

X线头影测量分析

1概念、应用、拍摄及描图

临床实例

什么是X线头影测量？

uX线头影测量,主要是测量X线头颅定位照像所得的影像,对牙颌,颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析,从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断,由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。

发展历史

*1780年解剖学家Camper

*1884年人类学国际会议在德国Frankfurt举行—眼耳平面（FH）的诞生

*1916年正畸学家VanLoon第一个将人类学方法应用到正畸学中

*1923年Meconer将X射线引入正畸学中

*1931年Brondbent(美)及Hofrath(德)首次使用头颅定位器及摄片技术

X线头影测量的主要应用

u1.研究颅面生长发育

u2.牙颌、颅面畸形的诊断分析

X线头影测量的主要应用

X线头影测量的主要应用

u3.确定错畸形的矫治设计

u4.研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化

X线头影测量的主要应用

u4.研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化

X线头影测量的主要应用

u5.外科正畸的诊断和矫治设计

X线头影测量的主要应用

X线头影测量的主要应用

u6.下颌功能分析

头颅定位X线片的种类

按拍摄时不同头位分为

头颅侧位片

正位片

颏顶位片

X线头颅侧位片的获得

u仪器：X线

头颅定位仪

左右耳塞与眶针三者构成一与地平面平行的恒定平面

X线的中心点通过外耳道

X线球管至头部矢状面的距离不小于150cm

尽量减少头至胶片或感光板的距离

X线头颅侧位片的获得

X线照相要求：

u被摄者要求：

1.立位，两足自然平行分开，平视前方

2.最大牙尖交错位（ICP）或根据需要

3.面肌自然放松

良好X线头影片

u软、硬组织清晰

u头位正常

u左右重叠度好

不好的X线头影片

AB

X线头影测量片的描图

传统胶片手绘描图

在X线观片灯或专用描图桌上进行

工具：透明硫酸纸、刻度尺、三角板、圆规、3H铅笔等

描图顺序

软组织描记,可用强光局部观察

X线头影测量片的描图

描图

使用头影测量软件（如

WinCeph）定点测量

使用绘图软件

（如Coreldraw)

头颅侧位片描绘内容

颅底、蝶鞍轮廓

眶侧缘、下缘

翼上颌裂

上下颌骨

上下1、上下6

软组织侧貌

常用X线头影测量的标志点

标志点

•定义:

用来构成一些平面及测量内容的点

•特点：

–影片上易于定位

–生长发育过程中相对稳定

标

•部位:

-颅部

-上颌

-下颌

-软组织侧面

志

点

•蝶鞍点(S):

蝶鞍影像的中心

常用作描图重叠的参考点

颅部标志点

•鼻根点(N):

鼻额缝之最前点

前颅部的标志点

代表颅、面部的结合处

颅部标志点

颅部标志点

•耳点(P):

外耳道的最上点(解剖耳点)

常以定位仪耳塞影像之最上点代表（机械耳点）

•颅底点(Ba):

枕骨大孔前缘之中点

后颅底的标志

颅部标志点

•Bolton点:枕骨髁突后切迹的最凹点

颅部标志点

蝶鞍点（S）

鼻根点(N）

耳点（P）

颅底点（Ba）

Bolton点（Bo）

颅部标志点（5个）

PBa

N

●

S

●

•眶点(O):眶下

缘之最低点

上颌标志点

•翼上颌裂点(Ptm):

翼上颌裂轮廓(倒泪滴状）之最下点

常作上颌后界的参考点

上颌标志点

•前鼻棘(ANS):

前鼻棘之尖

•后鼻棘(PNS):

硬腭后部骨棘之尖

上颌标志点

•上齿槽缘点(SPr):

上齿槽突之最前下点

常在上中切牙釉牙骨质界处

上颌标志点

•上齿槽座点(A):

ANS与SPr间骨部的最凹点

用于评价上颌基骨前后位置的重要标志点！

上颌标志点

•上中切牙点

（UI）：上中切牙切缘之最前下点

•上磨牙点（U6）:上颌第一磨牙的近中颊尖点或颊沟点

上颌标志点

•眶点（O）

•翼上颌裂点（Ptm）

•前鼻棘（ANS）

•