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钢板检测
1.检测前准备
记录被检件的试件号及规格尺寸(400×500×δ),注意按规定的坐标方向摆放被检件,以便于记录检测结果。
探头与试块
探头:纵波直探头。
对比试块:CSK-ⅠA试块、试件大平底面
调整时基线
在CSK-ⅠA试块上,按仪器内设的时基线标定程序定标。
调节仪器时基线范围,使钢板的多次底波与显示屏上垂直刻度线重合,一般显示钢板的5次(也可少于5次)底波。
调整检测(基准)灵敏度
采用工件底波法调整:将被检试件的第一次底波B1高度调整到满刻度的50%,再提高10dB。;检测
初始扫查
设定扫查灵敏度,即根据被检件表面粗糙度等具体情况,在基准灵敏度的基础上提高一定的增益量。
进行全面扫查,以发现和确定被检件中缺陷存在的数量和分布位置。
缺陷的判定
缺陷波的位置在始波与底波之间,并存在多次反射回波,同时底波降低或消失。
在确定的基准灵敏度情况下,当缺陷波高F1≥50%满刻度,或B1100%、F1:B1≥50%时判定为缺陷。
注意观察底波幅度的变化的原因
缺陷的影响。
扫查部位表面过于粗糙,或扫查速度过快的情况下,使得检测灵敏度降低而导致底波幅度下降过大。;缺陷尺寸的测定和标记
测定时,仪器增益应为检测(基准)灵敏度状态。
测定方法:探头在缺陷附近的完好部位,重新调整基准灵敏度,以消除因不同位置的钢板表面粗糙度差异而引起的检测灵敏度误差。
测定缺陷的边界、面积和指示长度方法
在基准灵敏度的条件下,依次对发现的缺陷进行测定。
测定时,将探头以多个方向从缺陷中心向缺陷外移动,当缺陷波幅降低为F1=25%,或使F1:B1=50%时,探头中心则为缺陷边界点。两种测得的结果以较严重者为准。
连接各个方向的边界点,为缺陷的边界范围。
在边界点之间探头中心移动的最大距离为指示长度。
注意:不需要测定缺陷的埋藏深度和幅度当量值。;L1:缺陷左边界与试件左侧边的距离。
L2:缺陷下边界与试件下边的距离。
L3:最大指示长度,缺陷长度方向的尺寸。
SF:缺陷的指示面积(以园形或矩形图形的方法计算面积)。
L:缺陷边界间的距离。;锻件检测
1.检测前准备
a.记录??检件的试件编号、尺寸规格等数据,并将试件按记录规定的坐标方向摆放(坐标方向按试件检测面上X、Y钢印标记确定)。
形状及规格:长方体100×100×h;圆柱体Φ100×h
(h为被检件高度,h=100mm或150mm)
长方体试件:直角坐标,原点:左下角;
圆柱体试件:直角坐标,原点:圆心,分成四个象限。;探头与试块
探头:频率2.5MHz或5MHz,晶片直径Φ14mm或Φ20mm
试块:试件大平底面(用被检件的底面调节检测灵敏度)
调整时基线
探头置于CSK-ⅠA试块的100mm高度上,按数字检测仪器内设的时基线标定程序进行时基线的零点和声速调整。
调节时基线检测范围
根据被检件的高度h调节;
调节时,使被检件的第一次底波B1位于显示屏上的适当位置,通常在时基线满刻度60~80%内。;调整检测灵敏度
基准灵敏度规定为最大检测距离处的Φ2mm平底孔当量。
采用底波计算法的调整方法。
取被检件的完好部位BG,将其第一次底波的波高调节至基准波高的高度(满刻度80%)时,读取仪器的增益值,用dB1表示。
按公式计算ΔdBΦ2
以Df=2mm,x=h(mm)代入式中,
ΔdBΦ2为:
基准灵敏度dBj定为:dBj=dB1+ΔdBΦ2
将仪器的增益调整为dBj值时,检测的灵敏度则为标准所规定的基准灵敏度。;缺陷测定和记录
单个缺陷的测定:5项参数(x、y、H、Amax、BF)
x、y:缺陷的平面分布位置。
测定方法:移动探头,探测到缺陷的最大波高时,测量探头中心的平面位置坐标。
H:缺陷埋藏深度。
测定方法:探头位于测定x、y的相同位置,在仪器上读取缺陷的埋藏深度。
Amax:缺陷当量。
测定方法:探头探测到缺陷的最大波高时,将其调节至基准高度,读取仪器的增益值,记录为dB2(利用Amax的计算公式,dB2用来计算缺陷当量Φ4±ΔdB)。;Amax:密集缺陷中最大缺陷的缺陷当量。
测定方法:在密集缺陷内探头探测到最大缺陷的回波峰值后,将其波高调节至基准高度,读取仪器的增益值,记录为dB2(利用Amax的计算公式,dB2用来计算缺陷当量Φ4±ΔdB)。
BF:密集缺陷范围内,底波幅度的最大降低量。
测定方法:探头在密集缺陷的范围内探测底波幅度最小的位置,找到最低的底波后,调节其波高至基
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