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X射线光电子能谱
X射线光电子能谱能解决什么问题?X射线光电子能谱怎样识别?X射线光电子能谱要注意那些问题?
内容1基本原理及谱的认识2定性、定量分析和深度分析3实验时应注意的问题
1.1概述X射线光电子能谱(XPS)X-rayPhotoelectronSpectroscopy化学分析电子能谱(ESCA)ElectronSpectroscopyforChemicalAnalysis——表面元素化学成分和元素化学态分析的分析技术
1.1概述第一本论著1967年K.Siegbahn等著1980年K.Siegbahn获诺贝尔物理奖商品化仪器七十年代中是一门比较新的谱学
优点及特点:⑴固体样品用量小,不需要进行样品前处理,从而避免了引入或丢失元素所造成的误分析⑵表面灵敏度高,一般信息深度?10nm⑶分析速度快,可多元素同时测定⑷可以给出原子序数3-92的元素信息,以获得元素成分分析⑸可以给出元素化学态信息,进而可以分析出元素的化学态或官能团⑹样品不受导体、半导体、绝缘体的限制等⑺是非破坏性分析方法。结合离子溅射,可作深度剖析
应用范围?各种复合材料表面分析及界面分析?各种固体材料表面的成分分析及元素化学态分析?各种薄膜表面与界面分析?器件、产品质量分析及剖析?金属氧化与腐蚀?各种固体表面化学问题的测定,等等。
光电过程示意图??外壳层????????内壳层Ek=h?-Eb-?e-h?
基本概念结合能(BindingEnergy)-----原子能级中电子的结合能,其值等于把电子从所在的能级转移到Fermi能级时所需的能量化学位移(Chemicalshift)-----原子的内壳层电子结合能随原子周围化学环境变化的现象
ESCALab220i-XL型光电子能谱仪
元素定性分析在能谱图中出现特征谱线.我们可以根据这些谱峰的位置(结合能)来鉴定元素的种类
元素化学态分析对同一元素,当化学环境不同时,谱峰出现化学位移
X射线光电子能谱谱线强度反映原子的含量或相对浓度。测定谱线强度便可进行定量分析。X射线光电子能谱可分析除氢、氦以外的所有元素,测量深度为几埃到几十埃,对多组分样品,元素的检测限为0.1%(原子分数)。
Ag3d3/2Ag3d5/2
1.3.2光电子特征峰伴峰(1)振激谱线(Shakeup)-----是一种与光电离过程同时发生的激发过程.当原子的一个内层电子被X射线光电离而发射时,由于原子的有效电荷的突然变化导致一个外层电子跃迁到激发的束缚态.外层电子的跃迁导致发射光电子动能减小,其结果是在谱图主峰低动能侧出现分立的伴峰,伴峰同主峰之间的能量差等于带有一个内层空穴的离子的基态同它的激发态之间的能量差.
1.3.2光电子特征峰伴峰易出现shakeup峰的情况:※具有未充满的d,f轨道的过渡金属化合物和稀土化合物※具有不饱和侧链,或不饱和骨架的高聚物※某些具有共轭?电子体系的化合物
1.3.2光电子特征峰伴峰shakeup峰对化学研究提供的有用信息:?顺磁反磁性?键的共价性和离子性?几何构型?自旋密度?配合物中的电荷转移?弛豫现象
1.3.2光电子特征峰伴峰(2)振离谱线(Shakeoff)----是一种多重电离过程.当原子的一个内层电子被X射线光电离而发射时,由于原子的有效电荷的突然变化导致一个外层电子激发到连续区(即电离).其结果是在谱图主峰的低动能端出现平滑的连续谱,在连续谱的高动能端有一陡限,此陡限同主峰之间的能量差等于带有一个内层空穴离子基态的电离电位.
1.3.2光电子特征峰伴峰(3)能量损失峰(Energyloss)-----是由于光电子在穿过样品表面时同原子(或分子)之间发生非弹性碰撞损失能量后在谱图上出现的伴峰.
对于金属等离子激元
1.3.2光电子特征峰伴峰(4)X射线卫星峰(X-ra
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