第二讲--X射线荧光光谱分析.pptVIP

第二讲

X射线荧光光谱分析;“特别勉励大家做科研时一定要注意方法的创新。在竞争激烈的现在，往往技术上的突破，测试水平更为精确，就能发现新现象，解决新问题。”;光谱法是以光的发射、吸收和散射为基础建立起来的分析方法，根据光谱的波长和强度来进行定性和定量分析。;1895年德国物理学家伦琴Roentgen伦琴发现奇异的光线：可穿透不透明物质，使气体电离等，当时对其知之甚少——X射线（光电效应）

1912年劳厄Laue认识到X射线具有一定波长的电磁波（波动性）

;X射线分析主要应用在以下三个方面：

1以X射线照射后在晶体中产生衍射和散射现象来研究物相结构的X射线衍射分析；

2以被照元素产生特征X射线来研究物相化学成分的X射线荧光分析；

3以被照元素对X射线吸收来探测物相貌相的X射线透视分析。;X射线光谱学的发展过程：

第一阶段X射线的发现到布拉格方程的建立（1895-1913）；

第二阶段莫塞莱定律的建立和原级X射线光谱学的发展（1913-1948）；

第三阶段X射线荧光光谱分析的蓬勃发展（1948年至今）。;X射线的产生及其特点

X射线荧光分析的原理

X射线荧光分析法的特点

X射线荧光光谱仪器的结构

XRF定量分析方法

六分析样品的制备;一X射线的产生及其特点;当X射线管压U升高到一定的临界值，高速运动的电子的动能足以激发靶原子的内部壳层的电子，使它跳到能级较高的未被电子填满的外部壳层或离开体系而使原子电离。

这时原子中的某个内部壳层即出现了空位，同时体系的能量升高处于不稳定的激发态或电离态；随后（10-7—10-14s）即发生外层电子自高能态向低能态的跃迁，使整个原子体系的能量降低到最低而重新回到了稳定态。

原子在发生电子跃迁的同时，将辐射出带有一定频率或能量的特征谱线。特征谱线的频率大小决定于电子在始态和终态的能量差，其能量的一般表达式为：

?hνm1→m2=Em1-Em2=?Em1→m2

?不同元素具有不同的X特征谱线的波长，可以判别元素的性质，即进行定性分析；根据谱线的强度，可以进行定量分析。

;;原子的实际能级远较上述复杂，根据量子力学的计算：

L壳层的能级实际上是由L1、L2、L3三个子能级构成，它们分别对应于三个子壳层;

M壳层的能级由5个子能级M1、M2、M3、M4、M5构成;

;;2X射线的性质;具有光电效应;散射现象;一束平行的X射线垂直入射并穿过密度均匀物质层时，其强度减弱（吸收），被吸收的X射线能量又转变为次级效应的光电子、二次X射线和热能：一方面经散射作用光电子离开原来的平行束被减弱，另一方面更重要的是产生光电效应;二X射线荧光分析的原理;如图所示，

当入射X射线使K层电子激发生成光电子后，L层电子落入K层空穴，以辐射形式释放出来的能量为△E=EK-EL，产生的Kα射线就是荧光X射线。根据测得的X射线荧光的波长，可以确定某元素的存在，根据谱线的强度可以测定其含量。这就是X射线荧光分析法的基础。;2X射线荧光的分光方法;X射线衍射的布拉格方程;3莫塞莱Moseley定律;莫塞莱发现38种能做X射线管阳极的元素特征光谱。

各系列谱线波长均随原子序数的增加而变短

;4X射线荧光光谱定性分析;5X射线荧光光谱定量分析;三X射线荧光分析法的特点;X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以在对化学性质上属于同一族的元素也能进行分析，先可用于Be4~U92间全部元素的分析

测定元素含量范围宽，通常1~10-6，预富集处理后达10-8，分析精密度高

X射线光谱比发射光谱简单，且易于解析;制样简单

板状样品把照射面加工成平面，粉末样品经粉碎、压片后即可分析。粉末氧化物往往制成玻璃样片。液体样品则使用专用的液体试样槽。

是表面分析，测定部位大多是0.1mm深以上的表面层。

缺点：

难于做绝对分析，需要标样

原子序数低的元素，其检出限及测定误差一般都比原子序数高的元素差;四X射线荧光光谱仪器的结构;大致分为使用晶体分光的波长色散型和使用半导体探测器的能量色散型

波长色散型又分为扫描式光谱仪（对各元素逐一进行角度扫描顺序进行测定）和多元素同时分析式光谱仪（每个元素单独配备一个测角仪同时分析多个元素）;;;（1）X射线激发源;侧窗型和端窗型两种

*侧窗型管阳极接地

*端窗型管灯丝接地，系靶接正高压;;（2）晶体分光器;索拉狭缝（多片准直器）的作用：从试样产生的X射线，经入射狭缝变成平行射束，在平面晶体分光后，通过出射狭缝，由探测器测