CN114565836B 紫外放电图像-高光谱图像的污秽绝缘子状态评估方法 （国网青海省电力公司检修公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN114565836B(45)授权公告日2025.07.04

(21)申请号202210039706.3

(22)申请日2022.01.11

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN114565836A

(43)申请公布日2022.05.31

(73)专利权人国网青海省电力公司检修公司地址810000青海省西宁市城中区总寨镇

城南新城大道131号

专利权人国网青海省电力公司

国家电网有限公司

(72)发明人罗龙赵云龙刘占双齐鹏文

李岩郭培恒翁钢于涛王伟贾明辉王文斌潘超韩婷

石岩郑显亚刘丹陈培鑫

(74)专利代理机构北京前审知识产权代理有限公司11760

专利代理师张静李亮谊

(51)Int.CI.

GO6V20/10(2022.01)

GO6V10/80(2022.01)

GO6V10/764(2022.01)

GO6Q10/0639(2023.01)

GO6Q50/06(2024.01)

(56)对比文件

A,2020.06.09A,2021.02.26111257242112414950

A,2020.06.09A,2021.02.26

111257242

112414950

审查员林桂荣

洪婉婉刘洋马超苏伟杨振

权利要求书1页说明书4页附图1页

(54)发明名称

开始污秽绝缘子的电晕紫外图像和高光谱图像的同步采集和图像预处理，紫外图像

开始

污秽绝缘子的电晕紫外图像和高光谱图

像的同步采集和图像预处理，紫外图像和高光谱图像的视场匹配

提取紫外图像中异常放电点并计算放电

特征量，求取高光谱图像中对应放电区

域的反射率曲线并计算光谱曲线特征量，

构建电-光联合分析特征矩阵

电-光联合分析特征矩阵进行归一化后，将该矩阵输入至多种分类器融合的污秽等级分类模型中，从而实现联合紫外图像-高光谱图像的污秽绝缘子状态评估

开始

so2

S03

CN114565836B(57)摘要本发明涉及一种联合紫外放电图像-高光谱图像的污秽绝缘子状态评估方法，同步采集污秽绝缘子的紫外放电图像和高光谱图像且图像预处理，开展紫外放电图像和高光谱图像的视场匹配；提取所述紫外放电图像中异常放电区域并计算放电特征量，获得所述高光谱图像中异常放电区域的反射率曲线并计算光谱曲线特征量，基于所述放电特征量和光谱曲线特征量构建电-光联合分析特征矩阵Z;归一化所述电-光联合分析特征矩阵Z,并输入至多种分类器融合的污秽等级分类模型中评估污秽绝缘子状态。本发明提供了

CN114565836B

(57)摘要

和状态检修工作。

CN114565836B权利要求书1/1页

2

1.一种联合紫外放电图像-高光谱图像的污秽绝缘子状态评估方法，其特征在于，其包括以下步骤：

步骤S01:同步采集污秽绝缘子的紫外放电图像和高光谱图像且图像预处理，开展紫外放电图像和高光谱图像的视场匹配；

步骤SO2:提取所述紫外放电图像中异常放电区域并计算放电特征量，获得所述高光谱图像中异常放电区域的反射率曲线并计算光谱曲线特征量，基于所述放电特征量和光谱曲线特征量构建电-光联合分析特征矩阵Z,其中，基于紫外放电图像，采取二值化处理并使用边缘检测提取异常放电区域的位置坐标[x,y;],同时求取紫外放电图像的灰度分布[H]以及放电面积[S];基于高光谱图像提取异常放电区域的位置坐标[x;,y;]下的反射率光谱信息[r?,…,r;],并计算其光谱导数[di]和积分面积[mi],同时求取异常放电区域的位置坐标[x,,y;]下高光谱图像灰度分布[H];将紫外放电图像中灰度分布[H紫]、放电面积[S]、光谱导数[di]、积分面积[mi]、高光谱图像灰度分布[H]载入到电-光联合分析特征矩阵Z中；

步骤SO3:归一化所述电-光联合分析特征矩阵Z,并输入至多种分类器融合的污秽等级分类模型中评估污秽绝缘子状态。

2.根据权利要求1所述的一种联合紫外放电图像-高光谱图像的污秽绝缘子状态评估方法，其特征在于，所述步骤S01中，经由紫外成像获取污秽绝缘子的紫外放电图像，并通过图像去噪和图像增强预处理所述紫外放电图像；高光谱成像获取污秽绝缘子的高光谱图像，并通