测控电路（第7版）课件：信号转换电路.pptxVIP

测控电路;

信号转换电路

7.1模拟开关

7.2采样保持电路

7.3电压比较电路

7.4电压频率转换电路

7.5电压电流转换电路

7.6模拟数字转换电路;

本章知识点

口通过常用器件构成的转换电路的工作原理

口以常用的集成转换器件介绍其基本应用口转换电路的性能参数或误差源分析;

信号转换电路

口信号转换电路用于将各类型的信号进行相互转换，使具有不同输入、输出的

器件与电路可以联用。在进行信号转换时，需要考虑以下两个问题：

①转换电路应具有所需特性；

②要求信号转换电路具有一定的输入阻抗和输出阻抗以与之相联的器件或电路阻抗匹配。;

7.1模拟开关

7.1.1模拟开关及其主要参数

7.1.2增强型MOSFET开关电路

7.1.3模拟开关误差源分析

7.1.3集成模拟开关

7.1.4模拟多路开关电路;

7.1模拟开关

口模拟开关是在电路中用于实现模拟信号通与断的电子开关器件，它的作用类

似于机械式转换开关，信号电流从输入端流到输出端，其信号传送方向可以是双向的.

口模拟开关通常有三个端子：控制端C、信号输入端I及输出端O。I/O可以互换的为“双向开关”。

口常用的模拟开关元件包括二极管开关、双极型晶体管开关、结型场效应晶体管(JFET)开关、MOS型场效应晶体管(MOSFET)开关等;

7.1.1模拟开关及其主要参数

口导通电阻R是指开关闭合时所呈现的电阻

口截止电阻R。是指开关关断时所呈现的电阻，它主要由于漏电所致；

□电荷注入是指与构成模拟开关的NMOS和PMOS管相伴的杂散电容引起的一种电荷变化，是开关过程中模拟开关的寄生电容失配及其对输出信号完整性影响的函数；

口延迟时间是指控制信号改变时对应产生的输出延迟时间，包括开关导通延迟时间和开关截止延迟时间，由模拟开关的寄生电容所致。;

7.1.2增强型MOSFET开关电路

□N沟道增强型MOSFET开关电路

·N沟道管导通的条件

u?uc-U

·缺点：Rn随u;增大而增大;

7.1.2增强型MOSFET开关电路

□CMOS开关电路

·P沟道增强型MOSFET的衬底接+E,外加栅极控制电压与N沟道增强型MOSFET相反，当控制电压uGN=+E、UGP=-E时，二管均导通；当uGn;

7.1.3模拟开关误差源??析

口实际的模拟开关存在导通电阻Ron、漏电流ILKG、结电容CS、CDS和CD等

多种误差源，会影响其直流和交流性能。

》;

口在开关导通状态下，受导通电阻和漏电流的影响，漏电流流过Rn+Rg和R

的并联等效电阻，输出电压为：

口在开关关断状态下，漏电流流过负载电阻，产生一个电压：u。=ILKG×RL。;

口开关的极点影响电路的带宽，为了使带宽最大化，开关应具有低输入电容、

低输出电容和低导通电阻。在关断状态下Cps会把输入信号耦合至输出端，导致开关隔离性能劣化，关断隔离度随输入频率增大而下降。就此误差源而;

2、CMOS开关交流特性

口构成CMOS开关的P沟道和N沟

道的栅漏分布电容的失配，形

成所谓的等效栅漏电容CQ

□CMOS开关的控制端在开、关

控制期间对栅漏极电容CQ注入

电荷，这将导致输出电压的阶

跃变化，其大小与CQ和负载电

容CL有关。;

7.1.4集成模拟开关

□C544、CD4066均为单片集成CMOS四模拟开关电路;;

7.2.1基本原理

7.2.2单片集成采样保持电路;

7.2.1基本原理

口采样保持电路的基本组成：

·模拟开关

·模拟信号存储电容

·缓冲放大器;

7.2.2单片集成采样保持电路

口采样保持电路的主要性能指标

·捕捉时间TAc:从发出采样指令的时刻起，到输出值达到规定的误差范围以内所需的时间。TAc大则跟踪性能差。

·孔径时间TA:指从发出保持指令的时刻起，到开关真正断开所需的时间。

TAp大则电路保持性能差。

·孔径误差：实际保持值与期望值存在的

差异。

》信号转换电路;

7.3电压比较电路

7.3.1电平比较器

7.3.2电压比较器特性指标

7.3.3滞回比较电路

7.3.4窗口比较电路

7.3.5多阈值比较器;

7.3电压比较电路

口阈值电压：

·输出电压从一个电平跳变到另一个电平所对应的输入电压值，用UT表示;

up=u,un=UR

当u,=UR时：up-u?=UR-UR=0输出电压翻转

阈值电压：UT=UR即u=Ur=U时，输出电压翻转

u;URup