CN120050407B 一种双变焦系统及其三维信息获取方法 （季华实验室）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN120050407B(45)授权公告日2025.07.08

(21)申请号202510510341.1

(22)申请日2025.04.23

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN120050407A

(43)申请公布日2025.05.27

(73)专利权人季华实验室

地址528200广东省佛山市南海区桂城街

道环岛南路28号

(72)发明人宋梦洒陈振翔易京亚彭云龙王沛冯家铭金哲镐

(74)专利代理机构深圳市君胜知识产权代理事

务所(普通合伙)44268专利代理师范美意

(51)Int.CI.

HO4N13/243(2018.01)

H04N23/67(2023.01)

HO4N13/25(2018.01)

G01B11/06(2006.01)

G06T7/521(2017.01)

G06T7/514(2017.01)

G06T7/571(2017.01)

GO6T17/10(2006.01)

(56)对比文件

CN110337611A,2019.10.15

CN113160393A,2021.07.23

审查员吴方萍

权利要求书2页说明书8页附图5页

(54)发明名称

一种双变焦系统及其三维信息获取方法

(57)摘要

CN120050407B本发明涉及三维测量技术领域，公开了一种双变焦系统及其三维信息获取方法，三维信息获取方法包括：调整投影单元和第一微镜阵列，使投影端在同轴光模式下工作；采用预设的第二变焦参数控制第二微镜阵列变焦，并实时处理成像单元的二维图像数据以生成二维超景深图像；调整第二微镜阵列的参数，直至成像单元所采集的图像清晰；采用预设的第一变焦参数控制第一微镜阵列变焦，实时获取扫描信息和图像数据并处理，以得到表面高度信息；结合二维超景深图像和表面高度信息生成包含纹理信息的三维信息；本申请公开的方法，克服了传统3D成像技术在缺少2D纹理信息时所面临的高计算误差难题，确保

CN120050407B

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调整投影单元与第一微镜阵列的工作状态，使投影单元与第一微镜阵列组成的投影端在同轴光模式下工作

基于预设的第二变焦参数控制第二微镜阵列开始变焦，在变焦过程中，实时获取成像单元采集的二维图像数据，并进行处理，以生成二维超景深图像

调整第二微镜阵列的工作状态，当成像单元所采集的图像清晰时，固定第二微镜阵列的step参数

基于预设的第一变焦参数控制第一微镜阵列开始变焦，在变焦过程中，实时获取第一微镜阵列反馈的扫描信息以及成像单元采集的扫描图像数据，基于扫描信息和扫描图像数据获取表面高度信息

融合二维超景深图像和表面高度信息，以生成包括物体纹理信息的三维信息

CN120050407B权利要求书1/2页

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1.一种双变焦系统的三维信息获取方法，其特征在于，双变焦系统包括控制装置以及分别与控制装置电性连接的投影单元、第一微镜阵列、第二微镜阵列和成像单元；三维信息获取方法包括：

调整投影单元与第一微镜阵列的工作状态，使投影单元与第一微镜阵列组成的投影端在同轴光模式下工作；

基于预设的第二变焦参数控制第二微镜阵列开始变焦，在变焦过程中，实时获取成像单元采集的二维图像数据，并进行处理，以生成二维超景深图像；

调整第二微镜阵列的工作状态，当成像单元所采集的图像清晰时，固定第二微镜阵列的step参数；

基于预设的第一变焦参数控制第一微镜阵列开始变焦，在变焦过程中，实时获取第一微镜阵列反馈的扫描信息以及成像单元采集的扫描图像数据，基于扫描信息和扫描图像数据获取表面高度信息；

融合二维超景深图像和表面高度信息，以生成包括物体纹理信息的三维信息。

2.根据权利要求1所述的一种双变焦系统的三维信息获取方法，其特征在于，所述调整投影单元与第一微镜阵列的工作状态，使投影单元与第一微镜阵列组成的投影端在同轴光模式下工作，包括：

将投影单元的光源模式调整为单一光常亮模式，并将第一微镜阵列的step参数调节至预设的中间位置，使投影单元与第一微镜阵列组成的投影端工作于同轴光模式；

或关闭投影单元，开启预选的环形光电源，并将第一微镜阵列的step参数调节至预设的中间位置，使第一微镜阵列工作于外设环形光模式。

3.