CN115003425B 废塑料的拣选装置、拣选方法及程序产品 （大王制纸株式会社）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN115003425B

(45)授权公告日2025.07.11

(21)申请号202180011546.5

(22)申请日2021.01.26

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN115003425A

(43)申请公布日2022.09.02

(30)优先权数据

2020-0228112020.02.13JP

(85)PCT国际申请进入国家阶段日2022.07.28

(86)PCT国际申请的申请数据

PCT/JP2021/0026242021.01.26

(87)PCT国际申请的公布数据

WO2021/161779JA2021.08.19

(73)专利权人大王制纸株式会社地址日本爱媛县

(72)发明人大石升治村上孝伸

(74)专利代理机构北京三友知识产权代理有限公司11127

专利代理师马莹马建军

(51)Int.CI.

BO7C5/342(2006.01)

C08J11/06(2006.01)

G01N21/3563(2006.01)

G01N21/85(2006.01)

(56)对比文件

JP

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JP

JP

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2005249624

2009191375

2016091359

2019086412

2020003419

A,2005.09.15

A,2009.08.27

A,2016.05.23

A,2019.06.06

A,2020.01.09

审查员胡月月

权利要求书3页说明书10页附图13页

(54)发明名称

废塑料的拣选装置、拣选方法及程序产品

(57)摘要

CN115003425B一种废塑料的材质判定装置，包括：第一判定部，对由中红外线照相机检测出的、通过照明装置对输送机的输送路径照射的光的发射光的光谱是废塑料片的光谱还是输送路径的光谱进行判定；第二判定部，从由第一判定部判定为废塑料片的光谱中提取两种特征数据；以及第三判

CN115003425B

CN115003425B权利要求书1/3页

2

1.一种废塑料的拣选装置，包括：

照射部，对在输送路径上输送的废塑料片照射光；

反射光谱检测部，接收由所述照射部照射的光的反射光以对所述反射光的光谱进行检测；

预处理部，使用在所述反射光较亮的条件下测量的第一校正用光谱和在比所述较亮的条件暗的条件下测量的第二校正用光谱，对由所述反射光谱检测部检测出的所述光谱进行校正；

第一判定部，对由所述预处理部校正后的由所述反射光谱检测部检测出的所述光谱是所述废塑料片的光谱还是所述输送路径的光谱进行判定；

第二判定部，从由所述第一判定部判定为所述废塑料片的光谱中提取特征量；

第三判定部，基于由所述第二判定部提取的所述特征量对所述废塑料片的材质进行判别；以及

拣选部，通过根据由所述第三判定部得到的材质判定结果，对向在所述输送路径上输送的所述废塑料片喷射空气的定时进行控制以对所述废塑料片进行分拣并使所述废塑料片落下到多个区域，从而对所述废塑料片按每种材质进行拣选和收集，

所述预处理部使用以下的公式对所述光谱进行校正，

[数1]

其中，S。rg(n,w)是由所述反射光谱检测部检测出的所述光谱，Wref(n,w)是所述第一校正用光谱，Dref(n,w)是所述第二校正用光谱，Sor(n,w)是校正后的所述光谱。

2.根据权利要求1所述的废塑料的拣选装置，其中，

所述预处理部进行从校正的所述光谱中切出预定的频率范围的加工，

所述第一判定部使用由所述预处理部加工的所述光谱进行所述判定。

3.根据权利要求1或2所述的废塑料的拣选装置，其中，

所述第一判定部使用学习完成的OneClassSVM进行判定。

4.根据权利要求1或2所述的废塑料的拣选装置，其中，

所述第二判定部使用学习完成的PLS进行判定。

5.根据权利要求1或2所述的废塑料的拣选装置，其中，

所述第三判定部使用学习完成的决策树进行判定。

6.根据权利要求1或2所述的废塑料的拣选装置，所述拣选部包括：

收集装置，基于所述第三判定部的判定结果，从流经所述输送路径的所述废塑料片中收集一种材质的废塑料片。

7.根据权利要求6所述的废塑料的拣选装置，其中，

所述输送路径在宽度方向上划分为第一系统和第二系统两个系统。

8.根据权利要求7所述的废塑料的拣选装置，其中，

在所述第一系统和所述第二系统中收集相同材质的废塑料片。

9.根据权利要求7所述的废塑料的拣选装置，其中，

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