CN113661397B 测试布置、自动化测试设备、以及用于测试包括电路和耦合到该电路的天线的被测装置的方法 （爱德万测试公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN113661397B(45)授权公告日2025.07.15

(21)申请号201980095285.2

(22)申请日2019.08.28

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN113661397A

(43)申请公布日2021.11.16

(85)PCT国际申请进入国家阶段日

2021.10.09

(86)PCT国际申请的申请数据

PCT/EP2019/0730242019.08.28

(87)PCT国际申请的公布数据

WO2021/037364EN2021.03.04

(73)专利权人爱德万测试公司地址日本东京都

(72)发明人简·海瑟尔巴特何塞·莫雷拉

(74)专利代理机构北京东方亿思知识产权代理有限责任公司11258

专利代理师杨佳婧

(51)Int.CI.

GO1R31/302(2006.01)

(56)对比文件

WO2019133097A1,2019.07.04

US2018149674A1,2018.05.31

审查员黄兆靖

权利要求书2页说明书12页附图9页

(54)发明名称

测试布置、自动化测试设备、以及用于测试包括电路和耦合到该电路的天线的被测装置的

方法

(57)摘要

CN113661397B根据本发明的一个实施例是一种用于测试包括有源电路和耦合到该电路的天线的DUT的测试布置。所述测试布置包括DUT位置和探针。此外，所述测试布置包括接地区域，其被配置为用作DUT的天线的天线接地区域。探针可以定位在接地区域附近。接地区域包括微小开口，使得天线馈电阻抗不受影响或不受显著影响。DUT位置处于接地区域的第一侧，而探针布置在接地区域的第二侧。探针适于经由开口弱耦合到DUT的天线，以便探测当DUT的电路对DUT的天线馈电时的信号，和/或以便将由天线馈送到

CN113661397B

主辐射方向

主辐射方向

335

天线

320

测试器

探针

具有耦合缝隙

的接地平面

395

310

CN113661397B权利要求书1/2页

2

1.一种测试布置(100、200、300、850),用于测试被测装置DUT(110、210、310、410、860),所述被测装置包括电路(120、320、420、520)和耦合到所述电路的天线(130、270、330、430、

530、870),

其中所述测试布置包括DUT位置(140、340、820)和探针(180、250、380、810),

其中所述测试布置包括接地区域(160、230、360、460、830),所述接地区域被配置为用作所述DUT的所述天线的天线接地区域，

其中所述接地区域包括开口(170、240、370),

其中所述DUT位置处于所述接地区域的第一侧，以及

其中所述探针被布置在所述接地区域的第二侧并适于经由所述开口耦合到所述DUT的所述天线，

以便探测当所述DUT的所述电路对所述DUT的所述天线馈电时的信号(890)和/或以便将由所述天线馈送到所述DUT的所述电路的信号耦合到所述天线。

2.根据权利要求1所述的测试布置，其中所述探针是导电的。

3.根据权利要求1或2所述的测试布置，其中所述探针形成传输线或者为传输线的一部分。

4.根据权利要求1至3中的一项所述的测试布置，其中所述探针处于所述天线的电抗近场区域中。

5.根据权利要求1至4中的一项所述的测试布置，其中所述接地区域和/或所述探针集成到所述DUT位置中。

6.根据权利要求1至5中的一项所述的测试布置，其中所述探针被布置为耦合到通过所述接地区域中的所述开口泄漏的场，以探测由所述DUT的所述天线在所述接地区域的所述第一侧的方向上辐射的信号。

7.根据权利要求1至6中的一项所述的测试布置，其中所述开口和所述探针定位在所述接地区域的中心区域中，所述接地区域用作所述DUT的贴片天线的接地区域。

8.根据权利要求1至7中的一项所述的测试布置，

其中所述DUT位置包括至少一个接触区域(150a、150b、350a、350b、450a、450b),其中布置了用于接触所述DUT的接触装置(220、222a-222d、480、510),以及

其中在其后面布置了所述探针的所述接地区域位于所述接触区域旁边，

使得当所述DUT放置在所述DUT位置中时所述DUT的触点接触所述接触装置，并且