深度解析(2026)《SJT 2658.9-2015半导体红外发射二极管测量方法 第9部分：辐射强度空间分布和半强度角》.pptxVIP

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目录

一、揭秘半导体红外发射二极管的核心性能：专家深度剖析辐射强度空间分布与半强度角的精密测量理论与产业基石作用

二、从标准文本到实验室实践：逐步拆解SJ/T2658.9-2015中辐射强度空间分布测量的完整操作流程与关键控制点

三、半强度角：不止于一个角度参数——深度解读其在光束质量评估、光学系统设计与器件一致性管控中的多维价值

四、标准中的光学迷宫：专家视角解析测量系统构成、探测器选择、坐标系建立及环境干扰排除的全要素攻略

五、数据如何“说话”？深入探讨空间分布测量数据的处理、图谱绘制、归一化方法及不确定度分析的数学模型

六、直面产业痛点：标准如何指导解决红外发射二极管批次稳定