深度解析(2026)《YST 1344.1-2020掺锡氧化铟粉化学分析方法 第1部分：铁、铝、铅、镍、铜、镉、铬和铊含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法》.pptxVIP

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目录

一、专家(2026年)深度解析：精准测定，为何是这八种关键杂质元素决定了ITOP粉的产业命运？

二、未来之战：从“纯度之争”到“痕量掌控”，ICP-AES技术如何引领ITO靶材行业质量革命？

三、标准核心密码解构：逐条揭秘YS/T1344.1-2020从样品消解到结果计算的完整方法学链条

四、技术决胜点：深度剖析电感耦合等离子体原子发射光谱法在本标准应用中的优势、挑战与优化策略

五、误差控制的艺术：专家视角看样品制备、基体效应与光谱干扰三大关键环节的质量控制精髓

六、标准实施路线图：实验室如何高效建立并验证符合YS/T1344.1-2020的可靠检测能力