宣贯培训(2026)《GBT 4937.4-2012半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）》.pptxVIP

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目录

一、洞悉HAST试验的核心使命：为何在高度集成化与微型化时代，强加速稳态湿热试验是评估半导体器件长期可靠性的不可替代的“时间加速器”？

二、深入解读GB/T4937.4-2012标准框架：从试验目的、术语定义到设备要求，专家视角全面构建HAST试验的标准化知识体系与操作基石。

三、庖丁解牛：HAST试验条件（温度、湿度、偏压）的精密设定与协同控制机制深度剖析及其对失效物理的差异化激发原理。

四、前瞻趋势：面向第三代半导体（GaN，SiC）及先进封装（Chiplet，3DIC）的HAST试验挑战、适应性与标准演进方向预测。

五、核心装置(2026