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基于光线追迹与特征函数的非球面干涉检测系统：建模、精度分析与应用拓展

一、引言

1.1研究背景

在现代光学系统不断追求高性能、小型化和轻量化的发展趋势下，非球面元件凭借其独特的光学特性，成为了光学领域不可或缺的关键部件。非球面元件的表面形状并非传统的球面，而是具有更为复杂的曲率变化，这一特性使其在光学系统中能够发挥独特的作用。

从光学性能提升的角度来看，非球面元件在成像系统中表现卓越。以相机镜头为例，传统球面透镜在光线聚焦时，由于其表面曲率固定，容易导致光线聚焦不准确，从而使成像边缘出现模糊、变形等问题，即所谓的像差。而非球面透镜的设计自由度更高，其表面曲率可以根据光学设计的需求进行精确调整，能够有效校正球差、彗差、像散等多种像差，将光线更精准地聚焦在一点，大大提高了成像的清晰度和分辨率。在高端摄影设备中，采用非球面元件的镜头能够拍摄出细节丰富、色彩还原准确的照片，满足专业摄影师对图像质量的严苛要求；在监控摄像头中，非球面元件的应用可以扩大监控范围，同时保证图像的清晰度，为安防领域提供更可靠的保障。

在减小光学系统体积与重量方面，非球面元件同样具有显著优势。在一些对便携性要求极高的光学设备，如手机摄像头中，空间极为有限。若使用传统球面透镜组合来实现特定的光学功能，往往需要多片镜片相互配合，这不仅会增加镜头的厚度和重量，还会使镜头结构变得复杂，不利于设备的轻薄化设计。非球面透镜则可以通过优化设计，用较少的镜片数量实现相同甚至更好的光学性能，从而有效减小镜头的体积和重量，满足了现代消费者对轻薄便携设备的需求。在航空航天领域，光学系统的重量直接影响到飞行器的能耗和性能，非球面元件的应用能够在保证光学系统性能的前提下，大幅减轻系统重量，为航空航天任务的顺利开展提供有力支持。

高精度检测对于非球面元件的制造和应用至关重要。在制造过程中，非球面元件的加工精度直接决定了其最终的光学性能。由于非球面的面形复杂，加工难度大，任何微小的加工误差都可能导致元件的光学性能下降。在对非球面元件进行高精度检测时，能够及时发现加工过程中的误差，并为后续的加工调整提供准确的数据依据，从而保证元件的面形精度符合设计要求，确保其光学性能的可靠性。在应用环节，准确的检测结果是判断非球面元件是否能够满足实际光学系统需求的关键。不同的光学系统对非球面元件的性能要求各异，只有通过高精度检测，才能确定元件是否适用于特定的光学系统，避免因元件性能不匹配而导致整个光学系统的性能下降。在高端光学仪器中，如天文望远镜、显微镜等，对非球面元件的精度要求极高，高精度检测能够保证这些仪器的成像质量，为科学研究提供可靠的观测工具。

1.2国内外研究现状

非球面干涉检测方法众多，各有其独特的原理和应用场景。计算全息法作为一种高精度的检测方法，利用计算全息图（CGH）作为补偿元件，通过干涉原理来检测非球面面形误差。它能够针对不同的非球面设计特定的CGH，实现高精度的零位补偿检测，在高精度非球面检测中具有重要地位。然而，CGH的制作过程复杂，成本较高，且对制作设备和工艺要求严格，限制了其大规模应用。

补偿法通过设计补偿器来补偿被测非球面的法线像差，实现面形误差的零位检测。这种方法检测精度高、可靠性强，是目前非球面面形检测的重要参照基准。但它需要针对每个被测非球面设计与之匹配的辅助元件，缺乏通用性，检测成本较高，测量周期也较长，尤其是在检测大口径凸非球面时，成本和难度都会大幅增加。

子孔径法将被测非球面划分为多个子孔径，通过对每个子孔径的测量和拼接来获取整个非球面的面形信息。该方法可以在一定程度上扩大干涉仪的检测动态范围，适用于大口径非球面的检测。然而，子孔径拼接过程中会引入拼接误差，对测量精度产生影响，并且需要高精度的机械运动机构和复杂的位置误差算法来保证测量的准确性。

光线追迹和特征函数在干涉面形检测系统建模中有着广泛的应用。光线追迹是一种通过计算光线在光学系统中的传播路径来分析光学性能的方法。在非球面干涉检测系统中，利用光线追迹可以精确计算光线在各个光学元件表面的折射、反射情况，从而模拟干涉条纹的形成，分析检测系统的误差来源。通过光线追迹可以分析光学元件的加工误差、装配误差等因素对干涉条纹的影响，为系统的优化设计提供理论依据。在一些基于干涉原理的非球面检测系统中，光线追迹能够帮助研究人员更好地理解光线的传播特性，从而改进检测方法，提高检测精度。

特征函数则从数学角度对光学系统的特性进行描述，通过建立光学系统的特征函数模型，可以深入分析系统的像差特性，为检测系统的优化提供理论指导。特征函数可以与光线追迹相结合，更全面地分析光学系统的性能。通过将特征函数与光线追迹结果进行对比，可以验证模型的准确性，进一步完善检测系统的设计。

尽管国内外在非球面干涉检测技术以及光线追迹和特征函数的应用方