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统计过程控制SPC培训考核试题及答案

1.单选题（每题2分，共30分）

1.1在X?-R控制图中，若子组大小n=5，计算R图的上控制限时，系数D4应取

A.0.577?B.2.114?C.1.023?D.0.000

答案：B

解析：当n=5时，查《计量控制图系数表》得D4=2.114，UCL_R=D4·R?。

1.2过程能力指数Cp与Cpk的关系，下列说法正确的是

A.Cp≥Cpk?B.Cp≤Cpk?C.Cp=Cpk?D.两者无固定大小关系

答案：A

解析：Cp仅衡量潜在波动宽度，Cpk同时考虑偏移，故Cp≥Cpk恒成立。

1.3若某关键尺寸的规格上限USL=20.05mm，下限LSL=19.95mm，过程标准差σ=0.01mm，均值μ=20.00mm，则Cpk为

A.1.00?B.1.33?C.1.67?D.2.00

答案：C

解析：Cpk=min(USL?μ,μ?LSL)/3σ=min(0.05,0.05)/0.03=1.67。

1.4在p图中，若子组容量n=100，历史平均不合格率p?=0.08，则上控制限约为

A.0.164?B.0.144?C.0.124?D.0.104

答案：A

解析：UCL_p=p?+3√[p?(1?p?)/n]=0.08+3√(0.08×0.92/100)=0.08+0.084≈0.164。

1.5下列哪项不是SPC八大判异准则之一

A.连续8点落在中心线同一侧?B.连续6点递增或递减?C.连续14点上下交替?D.连续5点中有4点落在1σ外

答案：D

解析：准则为“连续5点中有4点落在1σ外且在同一侧”，D缺“同一侧”条件。

1.6某电子厂用I-MR图监控贴片机偏移，若单值图出现连续9点落在中心线同一侧，应优先

A.重新计算控制限?B.停机排查系统原因?C.放宽规格限?D.增加样本量

答案：B

解析：9点同侧属系统偏移信号，需立即排查特殊原因。

1.7在计量型数据里，若过程呈右偏态分布，最合理的处理是

A.直接按正态假设计算Cpk?B.先进行Box-Cox变换再计算?C.改用中位数图?D.扩大样本量

答案：B

解析：Box-Cox变换可将偏态数据转为近似正态，再计算能力指数更可靠。

1.8下列关于“预控制图”描述正确的是

A.属于计数型控制图?B.绿区宽度等于规格公差?C.黄区警告界限在±1.5σ处?D.无需过程处于统计控制状态即可使用

答案：C

解析：预控制图将规格宽五等分，绿区居中占50%，黄区各占25%，界限在±1.5σ。

1.9在芯片蚀刻工序中，工程师每批抽5片测线宽，应首选

A.np图?B.c图?C.X?-R图?D.u图

答案：C

解析：线宽为计量值，子组容量固定为5，X?-R图最经济。

1.10若过程已处于统计控制状态，但Cpk=0.9，则说明

A.过程稳定且满足规格?B.过程稳定但不满足规格?C.过程存在特殊原因?D.控制图失效

答案：B

解析：控制状态仅表明无特殊原因，Cpk1.0说明固有波动超出规格要求。

1.11在R图出现“连续8点递增”的异常，最可能的原因是

A.测量系统分辨率不足?B.操作者疲劳导致波动增大?C.原材料批次差异?D.刀具磨损加剧

答案：D

解析：刀具磨损会使组内极差逐渐增大，呈现趋势性变化。

1.12对同一过程，若将子组大小由5改为3，则

A.R?会显著增大?B.X?图控制限变宽?C.R图控制限变窄?D.过程能力指数变大

答案：B

解析：n减小，X?图标准误σ/√n增大，控制限变宽；R?与过程本身有关，不会突变。

1.13下列关于“过程性能指数Pp”描述正确的是

A.用σ?within计算?B.反映短期波动?C.可用于客户审核?D.必须过程稳定才能计算

答案：C

解析：Pp用整体标准差σ?overall，反映长期表现，客户审核常看Pp、Ppk。

1.14在SPC软件中，若某点被误判为“异常”，最可能由于

A.控制限过宽?B.子组容量过大?C.测量系统GRR超标?D.过程均值偏移

答案：C

解析：测量误差大会放大随机波动，导致假报警率上升。

1.15对关键尺寸实行100%自动检测后，仍可保留SPC控制图，其目的在于

A.满足ISO要求?B.实时监控测量机稳定性?C.降低检验成本?D.替代MSA

答案：B

解析：控制图可监测测量系统本身是否漂移，确保筛选有效性。

2.多选题（每题3分，共30分，多选少选均不得分）

2.1下列哪些情形需重新计算控制限

A.更换主要原材料供应商?B.设备大修后验证合格?C.班次由两班改三班?D.新增一名检验员?E.客户缩紧规格公差20%

答案：ABE

解析