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- 2026-02-06 发布于重庆
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(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(43)申请公
(10)申请公布号CN112928206A布日2021.06.08
(21)申请号202110118880.2
(22)申请日2021.01.28
HO1L45/00(2006.01)
(71)申请人广东省大湾区集成电路与系统应用研究院
地址510535广东省广州市开发区开源大
道136号A栋
申请人中国科学院微电子研究所
(72)发明人崔岩罗军杨美音许静张骥
(74)专利代理机构无锡市汇诚永信专利代理事
务所(普通合伙)32260代理人朱晓林
(51)Int.CI.
HO1L43/08(2006.01)
HO1L43/10(2006.01)
HO1L43/12(2006.01)
权利要求书1页说明书4页附图4页
(54)发明名称
一种MTJ及其驱动方法和制作方法
(57)摘要
CN112928206A本发明涉及MTJ技术领域,公开了一种MTJ及其驱动方法和制作方法,该MTJ包括参考层,参考层的上表面设有势垒层,势垒层的上表面设有自由层,自由层的上表面设有阻变层,阻变层的上表面和参考层的下表面之间存在压降时,阻变层向自由层迁移氧离子,迁移到自由层的氧离子会和自由层的Fe和Co结合生成没有磁性的Fe0和Co0氧化物,进而降低自由层的磁矩翻转电流,降
CN112928206A
HfOx
CoFeB
MgO
CoFeB
5
3
2
1
CN112928206A权利要求书1/1页
2
1.一种MTJ,其特征在于:包括参考层,所述参考层的上表面设有势垒层,所述势垒层的上表面设有自由层,所述自由层的上表面设有阻变层,所述阻变层的上表面和所述参考层的下表面之间存在压降时,所述阻变层向所述自由层迁移氧离子。
2.根据权利要求1所述的一种MTJ,其特征在于:所述阻变层的外围还设有保护层,所述保护层上在阻变层的上表面处开设有第一电极孔、在自由层的上表面处开设有第二电极孔,所述第一电极孔内安装有第一电极,所述第一电极与阻变层电连接,所述第二电极孔内安装有第二电极,所述第二电极与自由层电连接。
3.根据权利要求1或2所述的一种MTJ,其特征在于:所述自由层和参考层的材料均是CoFeB,所述势垒层用到的材料是Mg0,所述阻变层用到的材料是Hf0x。
4.一种MTJ的驱动方法,应用如权利要求1-3任一项所述的MTJ,其特征在于,包括以下步骤:
S1:先将所述MTJ的阻变层的上表面接入电源;
S2:接着将所述MTJ的参考层的下表面接地,使阻变层的上表面和参考层的下表面之间存在压降,让阻变层向自由层迁移氧离子;
S3:断开阻变层的上表面与电源之间的连接,使自由层的上表面接入第二电源,实现MTJ的状态读取。
5.一种MTJ的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:
S10:制作胚体,具体如下:先进行CoFeb薄膜沉积,接着在CoFeB薄膜上从下往上依次制备Mg0薄膜、第二CoFeB薄膜和HfOx薄膜;
S11:对步骤S1的胚体进行曝光和刻蚀,制作圆柱形状的第一标准件;
S12:使用PR掩膜对步骤S2中的第一标准件顶层的Hf0x薄膜进行曝光和套刻,HfOx薄膜的曝光和套刻部分为光阻区,接着对HfOx薄膜进行刻蚀,制作第二标准件;
S13:在第二标准件的HfOx薄膜外围进行介质填充,制作保护层;
S14:在保护层上面分别开设第一电极孔和第二电极孔,所述第一电极孔延伸至HfOx薄膜的上表面,所述第二电极孔延伸至CoFeB薄膜的上表面;
S15:在第一电极孔中进行电极沉积,制作第一电极,所述第一电极与Hf0x薄膜的上表面电连接,在第二电极孔进行电极沉积,制作第二电极,所述第二电极与CoFeB薄膜的上表面电连接。
6.根据权利要求1所述的一种MTJ的制作方法,其特征在于,所步骤S2中的第一标准件的直径大于Onm、小于100nm,步骤S3中的第二标准件的HfOx薄膜在曝光和套刻后是圆柱形状,直径大于Onm、小于50nm。
CN112928206A说明书1/4页
3
一种MTJ及其驱
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