FS-Pro™半导体参数分析仪
博达微科技为您带来革命性的量测设备FS-Pro™,
将人工智能算法应用于半导体参数测试,大幅提升
测试速度和测试能力。无论是在科研领域还是工业
生产,您都能感受到技术的力量。
产品特点
一体化测试
FS-Pro™集成直流测试,脉冲测试,瞬态测试,电容测试和低频噪声(1/f噪声)测试于单台仪器中,
无需换线和重新探针即可完成全部低频参数化表征。
超快速
FS-Pro™引入人工智能驱动测试技术,相比传统半导体参数测试系统其测试速度最高可达10倍,在
强大速度提升的同时仍保持测试精
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