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- 2026-03-16 发布于重庆
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(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN104241141A
(43)申请公布日2014.12.24
(21)申请号201410509890.9
(22)申请日2014.09.28
(71)申请人上海集成电路研发中心有限公司地址201210上海市浦东新区张江高斯路
497号
(72)发明人曾绍海李铭易春艳
(74)专利代理机构上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)31275
代理人吴世华林彦之
(51)Int.CI.
HO1L21/336(2006.01)
HO1L21/20(2006.01)
HO1L29/78(2006.01)
权利要求书1页说明书4页附图3页
(54)发明名称
一种用于制作嵌入式硅锗应变PMOS器件的方法
步骤一:提供一平面半导体基底,在所述半导体基底
步骤一:提供一平面半导体基底,在所述半导体基底上依次形成硅锗合金层和单晶硅层
2
步骤二:形成浅沟槽隔离、栅极及侧墙,所述浅沟槽隔离停留在所述半导体基底
3
步骤三:形成PMOS源漏凹槽,所述源漏凹槽停留在所述硅锗合金层
步骤四:在所述源漏凹槽内继续
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