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半导体集成电路可靠性鉴定指南说明书用户手册.pdf

半导体集成电路可靠性鉴定指南说明书用户手册.pdf

    半导体器件通用鉴定指南

    第1部分：集成电路可靠性鉴定指南

    1范围

    本文件给出了半导体集成电路产品的可靠性鉴定计划的指南。本文件不适用于军事和太空相关应用。

    注1：通过该指南生产商可以使用灵活的样本量来降低成本并保持适度的可靠性，该指南依据EDR-4708、AECQ100、

    JESD47或其它被指定的相关文件改编。

    注2：本文中使用的威布尔分布方法是计算特定可靠性项目的适当样本量和试验条件的几种方法之一。

    2规范性引用文件

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