《数字电子技术》》_实验报告22集成逻辑门电路的参数测试.docVIP

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实验项目：实验二集成逻辑门电路的参数测试

实验日期：协同实验者：

实验目的

掌握TTL和CMOS与非门主要参数的意义及测试方法。

进一步熟悉数字逻辑实验箱的基本功能和使用方法。

实验仪器及设备

1．数字逻辑实验箱DSB-31台

2．万用表2只

3．元器件：74LS20（T063）CC4012各一块

2CK114只

电阻及导线若干

实验线路图

实验内容（简单实验步骤、实验数据及波形）

TTL与非门74LS20静态参数测试

导通电源电流ICCL和截止电源电流ICCH。测试电路如图2-1。74LS20为双与非门，两个门的输入端作相同处理。测得ICCL=12mA，ICCH=1.6mA

图2-1图2-2

低电平输入电流IiL和高电平输入电流IiH。每一门和每一输入端都测试一次。测试电路如图2-2。

参数

1A

1B

1C

1D

2A

2B

2C

2D

IIl（mA）

1.1

1.2