CN119546933A 用于Mura检测和Demura的方法和系统 （上海显耀显示科技有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119546933A

(43)申请公布日2025.02.28

(21)申请号202280098444.6

(22)申请日2022.07.25

(85)PCT国际申请进入国家阶段日2025.01.22

(86)PCT国际申请的申请数据

PCT/CN2022/1076842022.07.25

(87)PCT国际申请的公布数据

WO2024/020737EN2024.02.01

(71)申请人上海显耀显示科技有限公司

地址200120上海市浦东新区鸿音路1889

号

(72)发明人姜兴通

(74)专利代理机构北京市集佳律师事务所16095

专利代理师张婉贞

(51)Int.Cl.

G01M11/02(2006.01)

G02B27/01(2006.01)

权利要求书6页说明书10页附图5页

(54)发明名称

用于Mura检测和Demura的方法和系统

(57)摘要

CN119546933A提供了一种检测近眼显示器（near_eyedisplay，110、410，NED）中的虚拟图像的Mura的方法及一种Demura方法。所述用于检测Mura的方法包括：获取在所述近眼显示器（110、410，NED）中呈现的所述虚拟图像；根据Mura类型来提取所述虚拟图像的Mura特