CN119579608A 基于图像采集的电子元器件封装缺陷检测方法及检测系统 （先之科半导体科技(东莞)有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119579608A

(43)申请公布日2025.03.07

(21)申请号202510139899.3

(22)申请日2025.02.08

(71)申请人先之科半导体科技（东莞）有限公司

地址523000广东省东莞市寮步镇寮步百

业路70号1栋、2栋

(72)发明人叶晓刚

(74)专利代理机构广州志识恒为专利代理事务所(特殊普通合伙)441154

专利代理师林丽琼

(51)Int.Cl.

G06T7/00(2017.01)

G06N3/0464(2023.01)

G06N3/084(2023.01)

G06V10/44(2022.01)

G06V10/764(2022.01)

G06V10/80(2022.01)

G06V10/82(2022.01)

权利要求书3页说明书24页附图1页

(54)发明名称

基于图像采集的电子元器件封装缺陷检测

方法及检测系统

(57)摘要

CN119579608A本申请涉及图像处理领域，具体涉及一种基于图像采集的电子元器件封装缺陷检测方法及检测系统。本申请采用特征提取子算子和信息还原子算子组成缺陷检测算法，因为各个子算子中的标准化模块在算子组成模块前面，此外子算子中的标准化模块的输入端和输出端短接路径，构成在前标