YST 1864-2026 流化床法颗粒硅表面金属含量的测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法.pdf

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YS/TXXX—XXXX

流化床法颗粒硅表面金属含量的测定

酸浸取-电感耦合等离子体质谱法

1范围

本文件描述了电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)测定流化床法颗粒硅表面金属杂质元素含量的方

法。

本文件适用于流化床法颗粒硅表面金属杂质元素如铁、铬、镍、铜、钠、镁、铝、钾、钙、锌、钛、

钼、钨、钴、锰等含量的测定,各元素测定范围为0.05ng/g~1000

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