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基于BIST的SRAM型FPGA故障测试·13·

基于BIST的SRAM型FPGA故障测试

杨会平,王晓鹏,宋庆恒

(1.怀化学院物理与信息工程系,湖南怀化418000;2.电子科技大学自动化工程学院,四川成都611731)

摘要:从生产者角度对FPGA芯片测试技术进行深入而全面的研究,是保证制造出高可靠性芯片的一个

重要前提。由于F

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