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反射式低SSE红外光学系统设计与实验研究.pdf

反射式低SSE红外光学系统设计与实验研究.pdf

    摘要

    辐射源尺寸效应（SSE）是辐射测温、辐射特性测量及光学计量等领域的重要不

    确定度来源之一，比如辐射测量（如辐射测温，光谱测量等）的精度、热成像领域目

    标模糊失真等。国际电工委员会（IEC）制定的辐射温度计检定标准将辐射源尺寸效

    应列为辐射温度计的重要性能参数，规定温度计的不确定度指标应明确说明与之相应

    的测量距离和辐射源直径。辐射源尺寸效应产生的主要原因在于辐射测量系统中光学

    系统的成像质量和加工、装调的非理想性以及光学系统中的灰尘和光学元件自身引起

    的散射和反射等，这使得测量环境中的背景辐

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