摘要
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在多层高密度互连印刷电路板制造中,盲孔作为仅单侧导通基板的微型互连结构,
其加工质量直接决定电子器件的信号完整性及长期可靠性。以往的研究证明,多数的
PCB失效源于盲孔缺陷,而传统人工光学检测依赖经验阈值设定,对工艺迭代产生的多
态性缺陷识别率极低,且平均单板检测耗时极长,尽管基于模板匹配的计算机视觉方案
可将效率提升至1.2分钟/板,但其特征工程强耦合特定产线参数,当盲孔形态因基材更
换或孔径微缩发
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