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电子产品可靠性测试与质量管理手册

第壹章

通用测试环境与基础标准

1.1实验室环境控制与温湿度管理

实验室必须建立符合GB/T2423.1标准的温度场与湿度场监测网络，确保环境参数在测试前24小时内稳定在±1℃的波动范围内，任何超出此范围的漂移都需记录并评估其对半导体器件寿命的影响。相对湿度应严格控制在30%~60%RH之间，相对湿度过高会导致绝缘电阻下降，过低则引起表面吸附水膜，必须通过除湿机或加湿器进行动态调节，并实时记录相对湿度数据。

温度场分布需均匀，温度梯度不得超过2℃/米，在测试区中心点与边缘点的温差应小于1.5℃，以确保样品受热一致，避免因局部过热导致材