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基于近场探头阵列的PCB快速EMI扫描成像系统

摘要

随着电子设备向高频、高密度、高速化发展，电磁兼容（EMC）问题日益突出。印刷电路板（PCB）作为电子设备的核心，是电磁干扰（EMI）的主要源头。传统EMI诊断方法，如远场暗室测试，成本高昂、定位困难且无法提供直观的辐射热点分布。近场扫描技术虽能定位干扰源，但单点逐次扫描方式效率低下，难以满足现代电子产品快速迭代的研发需求。因此，开发一种能够快速、直观地呈现PCB表面近场辐射分布的成像系统，具有重要的工程应用价值。

本课题旨在设计并实现一套基于近场探头阵列的PCB快速EMI扫描成像系统。系统通过设计多通道微型磁场探头阵列与高