SJT 12037-2025 人工智能芯片 云侧训练用深度学习芯片测试指标与测试方法标准立项发展报告.docxVIP

人工智能芯片云侧训练用深度学习芯片测试指标与测试方法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:ArtificialIntelligenceChips-TestingIndicatorsandMethodsforCloud-SideTrainingDeepLearningChips

摘要

关键词

人工智能芯片；云侧训练；深度学习；测试指标；测试方法；行业标准；SJ/T12037-2025；算力评估

Keywords:ArtificialIntelligenceChip;Cloud-SideTraining;DeepLearning;TestingIndicators;TestingMethods;IndustryStandard;SJ/T12037-2025;ComputingPowerEvaluation

1.引言

人工智能（AI）正以前所未有的速度渗透至各行各业，大模型、多模态学习等前沿技术的突破性进展，极大地推动了对高性能算力的需求。云侧训练作为AI模型生命周期的核心环节，其使用的深度学习芯片（如GPU、NPU、ASIC等）的性能直接决定了模型训练的效率、成本与规模。然而，在标准SJ/T12037-2025发布之前，国内缺乏专门针对云侧训练用深度学习芯片的统一