《TADF的器件稳定性研究进展的文献综述》3000字.docVIP

PAGE2

TADF的器件稳定性研究进展的文献综述

OLED器件的优势和研究进展前文已经介绍过了，尽管OLED器件已经取得了长足的发展，其仍然面临器件使用寿命低的问题。特别是对于蓝光器件，器件寿命低的问题更加明显。这种情况严重限制了OLED器件的广泛应用。

1.1器件稳定性简介

器件的老化是个复杂的问题，它一般是指在器件的长时间使用过程中，器件发生的一些不良的变化，如：化学反应、形态变化（分层，相变，结晶）和物理变化（电荷积累等）[82]。这种变化受多种因素影响，例如：氧气、水分、杂质、载流子陷阱、载流子的密度等外部因素和分子键能、能量传递、激子扩散、载流子迁移率、激子能级等内部因素[19]。外部因素可以通过改善封装条件和优化器件结构解决。而内部因素则与分子本身的性质相关。内部因素导致的器件老化主要原因是：在器件的长时间使用过程中，分子化学结构的分解形成了分子碎片，这邪恶分子碎片可能会进一步形成电荷陷阱，捕获电荷，猝灭激子，进而降低器件效率。这种变化会导致器件性质的变化，最明显的表现就是器件的电流-电压-亮度特性会发生变化。这种变化会导致器件效率的降低，主要表现在恒定电流或恒定电压驱动下，器件的亮度降低。因此，器件寿命是指：在固定的条件（如：温度、湿度）和恒定电流或电压驱动下，器件亮度随时间的变化。通常，器件寿命是指在恒定电流下，器件的亮度衰减到初始亮度的一半时所用